Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Cертификаты | Хиты | | |
 

Handbook of Charged Particle Optics, Second Edition, Jon Orloff



Сейчас книги нет в продаже.
Возможно появится в будущем.

Автор: Jon Orloff
Название:  Handbook of Charged Particle Optics, Second Edition
ISBN: 9781420045543
Издательство: Taylor&Francis
Классификация:
ISBN-10: 1420045547
Обложка/Формат: Hardback
Страницы: 666 pages, 332 black
Вес: 1.386 кг.
Дата издания: 15/08/2008
Язык: English
Издание: 2 rev ed
Иллюстрации: 332 black & white illustrations, 47 colour illustrations, 45 black & white tables, 6 black & white halftones
Размер: 254 x 180 mm, 1361 grams
Читательская аудитория: Professional & Vocational
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Англии



      Старое издание

Handbook of Optical Metrology: Principles and Applications, Second Edition

Автор: Toru Yoshizawa (Editor)
Название: Handbook of Optical Metrology: Principles and Applications, Second Edition
ISBN: 1466573597 ISBN-13(EAN): 9781466573598
Издательство: Taylor&Francis
Рейтинг:
Цена: 38115 р.
Наличие на складе: Невозможна поставка.

Описание:

Handbook of Optical Metrology: Principles and Applications begins by discussing key principles and techniques before exploring practical applications of optical metrology. Designed to provide beginners with an introduction to optical metrology without sacrificing academic rigor, this comprehensive text:

  • Covers fundamentals of light sources, lenses, prisms, and mirrors, as well as optoelectronic sensors, optical devices, and optomechanical elements
  • Addresses interferometry, holography, and speckle methods and applications
  • Explains Moir metrology and the optical heterodyne measurement method
  • Delves into the specifics of diffraction, scattering, polarization, and near-field optics
  • Considers applications for measuring length and size, displacement, straightness and parallelism, flatness, and three-dimensional shapes

This new Second Edition is fully revised to reflect the latest developments. It also includes four new chapters--nearly 100 pages--on optical coherence tomography for industrial applications, interference microscopy for surface structure analysis, noncontact dimensional and profile metrology by video measurement, and optical metrology in manufacturing technology.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия