Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Semiconductor Radiation Detectors / Device Physics, Lutz Gerhard


Варианты приобретения
Цена: 14365.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Lutz Gerhard
Название:  Semiconductor Radiation Detectors / Device Physics
Перевод названия: Полупроводниковые детекторы, физика устройства
ISBN: 9783540716785
Издательство: Springer
Классификация:





ISBN-10: 3540716785
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 364
Вес: 0.52 кг.
Дата издания: 24.05.2007
Язык: English
Издание: 1st ed. 1999. 2nd pr
Иллюстрации: 167 black & white illustrations, 11 black & white
Размер: 23.62 x 16.10 x 1.98
Читательская аудитория: Postgraduate, research & scholarly
Подзаголовок: Device physics
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: Starting from basic principles, the author, whose own contributions to these developments have been significant, describes the rapidly growing field of modern semiconductor detectors used for energy and position measurement radiation. This development was stimulated by requirements in elementary particle physics where it has led to important scientific discoveries. It has now spread to many other fields of science and technology. The book is written in a didactic way and includes an introduction to semiconductor physics. The working principles of semiconductor radiation detectors are explained in an intuitive way, followed by formal quantitative analysis. Broad coverage is also given to electronic signal readout and to the subject of radiation damage. The book is the first to comprehensively cover the semiconductor radiation detectors currently in use. It is useful as a teaching guide and as a reference work for research and applications.
Дополнительное описание: Формат: 235x155
Илюстрации: 167
Круг читателей: Students and researchers, engineers
Ключевые слова:
Язык: eng
Издание: 1st ed. 1999. 2nd printin
Оглавление: Introduction.- Semiconductors.- Basic Semiconductor Structures.- Semiconductors as Detectors.- Detectors for Energy and Radiation Level Measurement.- Detectors for Position and Energy Measurement.- Front and Electronics.- Device Simulation.- Integration of Detector and Electronics.- Detectors with Intrinsic Amplification.- Fabrication Technology and Device Characterization.- Radiation Hardness of Detectors and Electronics.- Optimal Choice of Detectors and Electronics.- Summary and Outlook.




Introduction to Nuclear Radiation Detectors

Автор: Cooper
Название: Introduction to Nuclear Radiation Detectors
ISBN: 0521281326 ISBN-13(EAN): 9780521281324
Издательство: Cambridge Academ
Рейтинг:
Цена: 7128.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This 1986 book is an introduction to the then commonly used types of detectors of nuclear radiation. The author opens with an introduction to the properties and characteristics of ionising radiations. The main body of text, however, comprises a description of the construction, operation and main applications of gas-filled, scintillation and semiconductor detectors.

Semiconductor Device and Failure Analysis : Using Photon Emission Microscopy

Автор: Wai Kin Chim
Название: Semiconductor Device and Failure Analysis : Using Photon Emission Microscopy
ISBN: 047149240X ISBN-13(EAN): 9780471492405
Издательство: Wiley
Рейтинг:
Цена: 30722.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Fault detection has become increasingly difficult as integrated circuits become more and more complex. Photon Emission Microscopy (PEM) is a physical failure analysis technique which locates and identifies faults in integrated circuits.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия