Контакты/Адрес/Проезд   Доставка и Оплата
История
  +7(495) 980-12-10
  10:00-18:00 пн-сб
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Специальные предложения | Бестселлеры
 
Информация
Online Каталоги
Каталог учебной литературы
по английскому языку >>>

Каталог учебной литературы
по английскому языку >>>


Aberration-corrected analytical electron microscopy, Brydson, Rik


Варианты приобретения
Цена: 5199р.
Кол-во:
 о цене
Наличие: Отсутствует. 
Возможна поставка под заказ. Дата поступления на склад уточняется после оформления заказа


Добавить в корзину
в Мои желания
Автор: Brydson, Rik
Название:  Aberration-corrected analytical electron microscopy
Издательство: Wiley
Классификация:
Научное оборудование и методы, лабораторное оборудование
Физика
Химия
Механическая обработка и материаловедение

ISBN: 0470518510
ISBN-13(EAN): 9780470518519
ISBN: 0-470-51851-0
ISBN-13(EAN): 978-0-470-51851-9
Обложка/Формат: Hardback
Страницы: 296
Вес: 0.58 кг.
Дата издания: 23.09.2011
Серия: Physics,Chemistry,Mechanical engineering & materials
Язык: ENG
Иллюстрации: Illustrations
Размер: 240 x 164 x 20
Читательская аудитория: Professional & vocational
Ключевые слова: Physics,Chemistry,Mechanical engineering & materials
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Англии
Описание: The book is concerned with the theory, background, and practical use of transmission electron microscopes with lens correctors that can correct the effects of spherical aberration. The book also covers a comparison with aberration correction in the TEM and applications of analytical aberration corrected STEM in materials science and biology.
Дополнительное описание:




Principles of Analytical Electron Microscopy

Автор: Goldstein
Название: Principles of Analytical Electron Microscopy
ISBN: 0306423871 ISBN-13(EAN): 9780306423871
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 14853 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: All currently important areas in analytical electron microscopy-including electron optics, electron beam/specimen interactions, image formation, x-ray microanalysis, energy-loss spectroscopy, electron diffraction and specimen effects-have been given thorough attention.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте  Мобильная версия