Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films, Metin Tolan


Сейчас книги нет в продаже.
Возможно появится в будущем.

Автор: Metin Tolan
Название:  X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films
Перевод названия: Толан Метин: Рассеяние X-лучей с мягких тонких пленок
ISBN: 9783540651826
Издательство: Springer
Классификация:


ISBN-10: 3540651829
Обложка/Формат: Hardback
Страницы: 197
Вес: 0.00 кг.
Дата издания: 10.12.1998
Серия: Springer tracts in modern physics
Язык: English
Иллюстрации: 98 figures
Читательская аудитория: Professional & vocational
Подзаголовок: Materials science and basic research
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: This volume is dedicated to the scattering of x-rays by soft matter interfaces. X-ray scattering under grazing angles is the only tool for investigating these materials on atomic and mesoscopic length scales. A review of the field is presented with many examples.


      Новое издание
X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films

Автор: Metin Tolan
Название: X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films
ISBN: 366214218X ISBN-13(EAN): 9783662142189
Издательство: Springer
Цена: 13060.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщикаПоставка под заказ.
Описание: The properties of soft-matter thin films (e.g. liquid films, polymer coatings, Langmuir-Blodgett multilayers) nowadays play an important role in materials science. X-ray scattering under grazing angles is the only tool to investigating these materials on atomic and mesoscopic length scales.


X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films

Автор: Metin Tolan
Название: X-Ray Scattering from Soft-Matter Thin Films
ISBN: 366214218X ISBN-13(EAN): 9783662142189
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 13060.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The properties of soft-matter thin films (e.g. liquid films, polymer coatings, Langmuir-Blodgett multilayers) nowadays play an important role in materials science. X-ray scattering under grazing angles is the only tool to investigating these materials on atomic and mesoscopic length scales.

Basic X-Ray Scattering for Soft Matter

Автор: de Jeu Wim H.
Название: Basic X-Ray Scattering for Soft Matter
ISBN: 0198728670 ISBN-13(EAN): 9780198728672
Издательство: Oxford Academ
Рейтинг:
Цена: 4354.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Students and scientists of soft matter (polymers, liquid crystals, colloids, etc.) with a chemical background need to know the technique of x-ray scattering without becoming an expert. This book explains basic principles and applications of x-ray scattering in a simple way without heavy maths, using practical examples and case studies.

Characterization of Polymers in the Solid State II: Synchrotron Radiation, X-ray Scattering and Electron Microscopy (Advances in Polymer Science) (Volume 67)

Автор: H.H. Kausch, H.G. Zachmann, G. Bodor, G. Elsner, J
Название: Characterization of Polymers in the Solid State II: Synchrotron Radiation, X-ray Scattering and Electron Microscopy (Advances in Polymer Science) (Volume 67)
ISBN: 366215966X ISBN-13(EAN): 9783662159668
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 12157.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

X-Ray Scattering of Soft Matter

Автор: Norbert Stribeck
Название: X-Ray Scattering of Soft Matter
ISBN: 3642089259 ISBN-13(EAN): 9783642089251
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 16769.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This manual is a useful ready-reference guide to the analytical power of modern X-ray scattering in the field of soft matter. Data analysis based on clear, unequivocal results is rendered simple and straightforward - with a stress on careful planning of experiments and adequate recording of all required data.

Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems

Автор: Youichi Murakami, Sumio Ishihara
Название: Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems
ISBN: 3662532255 ISBN-13(EAN): 9783662532256
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 18167.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The research and its outcomes presented here is devoted to the use of x-ray scattering to study correlated electron systems and magnetism. Different x-ray based methods are provided to analyze three dimensional electron systems and the structure of transition-metal oxides.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия