Leendert M. Huisman Data Mining and Diagnosing IC Fails 9781441937674

Варианты приобретения

Цена: 20962.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ. Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть
При оформлении заказа до: 2025-12-15
Ориентировочная дата поставки: Январь
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину

в Мои желания

Автор: Leendert M. Huisman
Название: Data Mining and Diagnosing IC Fails
ISBN: 9781441937674
Издательство: Springer
Классификация:

Электроника

Схемы и компоненты

ISBN-10: 1441937676
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 250
Вес: 0.39 кг.
Дата издания: 2005
Серия: Frontiers in Electronic Testing
Язык: English
Издание: 1st ed. softcover of
Иллюстрации: 46 black & white illustrations, biography
Размер: 234 x 156 x 15
Читательская аудитория: Professional & vocational
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part.

Data Mining and Diagnosing IC Fails, Leendert M. Huisman