Контакты/Адрес/Проезд   Доставка и Оплата
История
  +7(495) 980-12-10
  10:00-18:00 пн-сб
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Специальные предложения | Бестселлеры
 
Читайте отзывы покупателей и оценивайте качество магазина на Яндекс.Маркете
Информация
Online Каталоги
Каталог учебной литературы
по английскому языку >>>

Каталог учебной литературы
по английскому языку >>>


Data Mining and Diagnosing IC Fails, Leendert M. Huisman


Варианты приобретения
Цена: 14024р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Англия: 91 шт.  Склад Америка: 116 шт.  
При оформлении заказа до: 15 ноя 2019
Ориентировочная дата поставки: середина Декабря

Добавить в корзину
в Мои желания
Автор: Leendert M. Huisman
Название:  Data Mining and Diagnosing IC Fails
Издательство: Springer
Классификация:
Электронная техника

ISBN: 1441937676
ISBN-13(EAN): 9781441937674
ISBN: 1-441-93767-6
ISBN-13(EAN): 978-1-441-93767-4
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 250
Вес: 0.386 кг.
Дата издания: 2005
Серия: Frontiers in Electronic Testing
Язык: ENG
Издание: 1st ed. softcover of
Иллюстрации: 46 black & white illustrations, biography
Размер: 23.50 x 15.49 x 1.45 cm
Читательская аудитория: Professional & vocational
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part.



Data Mining and Diagnosing IC Fails

Автор: Huisman Leendert M.
Название: Data Mining and Diagnosing IC Fails
ISBN: 0387249931 ISBN-13(EAN): 9780387249933
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 14024 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: There are many techniques for analyzing IC fails, but they are scattered over the professional IC test and diagnosis literature, and in various statistics and data mining handbooks. Moreover, many data mining techniques that are standard in other data analysis environments, and that are appropriate for analyzing IC fails, have not yet been employed for that purpose. Data Mining and Diagnosing IC Fails addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) integrated circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis. The various approaches discussed in this book have a thorough theoretical underpinning, but are geared towards applications on real life fail data and state of the art ICs. This book brings together a large number of analysis techniques that are suitable for IC fail data, but that are not available elsewhere in a single place. Several of the techniques, in fact, have been presented only recently in technical conferences. The purpose of the book is to bring together in one place a large number of analysis, data mining and diagnosis techniques that have proven to be useful in analyzing IC fails. The descriptions of the techniques and analysis routines is sufficiently detailed that professional manufacturing engineers can implement them in their own work environment.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте  Мобильная версия