Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Cертификаты | Хиты | | |
 

Data Mining and Diagnosing IC Fails, Leendert M. Huisman



Варианты приобретения
Цена: 17324р.
Кол-во:
 о цене
Наличие: Отсутствует. Возможна поставка под заказ.

При оформлении заказа до: 30 авг 2022
Ориентировочная дата поставки: конец Сентября- начало Октября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Leendert M. Huisman
Название:  Data Mining and Diagnosing IC Fails
ISBN: 9781441937674
Издательство: Springer
Классификация:
ISBN-10: 1441937676
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 250
Вес: 0.386 кг.
Дата издания: 2005
Серия: Frontiers in Electronic Testing
Язык: English
Издание: 1st ed. softcover of
Иллюстрации: 46 black & white illustrations, biography
Размер: 234 x 156 x 15
Читательская аудитория: Professional & vocational
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии



Data Mining and Diagnosing IC Fails

Автор: Huisman Leendert M.
Название: Data Mining and Diagnosing IC Fails
ISBN: 0387249931 ISBN-13(EAN): 9780387249933
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 17324 р.
Наличие на складе: Поставка под заказ.

Описание: There are many techniques for analyzing IC fails, but they are scattered over the professional IC test and diagnosis literature, and in various statistics and data mining handbooks. Moreover, many data mining techniques that are standard in other data analysis environments, and that are appropriate for analyzing IC fails, have not yet been employed for that purpose. Data Mining and Diagnosing IC Fails addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) integrated circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis. The various approaches discussed in this book have a thorough theoretical underpinning, but are geared towards applications on real life fail data and state of the art ICs. This book brings together a large number of analysis techniques that are suitable for IC fail data, but that are not available elsewhere in a single place. Several of the techniques, in fact, have been presented only recently in technical conferences. The purpose of the book is to bring together in one place a large number of analysis, data mining and diagnosis techniques that have proven to be useful in analyzing IC fails. The descriptions of the techniques and analysis routines is sufficiently detailed that professional manufacturing engineers can implement them in their own work environment.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия