Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Embedded Memories for Nano-Scale VLSIs, Kevin Zhang


Варианты приобретения
Цена: 20896.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-08-18
Ориентировочная дата поставки: конец Сентября - начало Октября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Kevin Zhang
Название:  Embedded Memories for Nano-Scale VLSIs
ISBN: 9781441946942
Издательство: Springer
Классификация:





ISBN-10: 1441946942
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 396
Вес: 0.55 кг.
Дата издания: 2009
Серия: Integrated Circuits and Systems
Язык: English
Издание: Softcover reprint of
Иллюстрации: 110 black & white illustrations, 15 black & white tables, biography
Размер: 234 x 156 x 21
Читательская аудитория: Professional & vocational
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: An in-depth view on the state-of-the-art embedded memory technologies will be found in this comprehensive book. The book helps practicing engineers grasp key technology attributes and advanced design techniques in nano-scale VLSI design.


Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Автор: Manoj Sachdev; Jose Pineda de Gyvez
Название: Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
ISBN: 1441942858 ISBN-13(EAN): 9781441942852
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 26120.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия