Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics, Hui Xie; Cagdas Onal; St?phane R?gnier; Metin Sitt
Автор: Seizo Morita; Franz J. Giessibl; Roland Wiesendang Название: Noncontact Atomic Force Microscopy ISBN: 3642260705 ISBN-13(EAN): 9783642260704 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 26120.00 р. Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: This report on scanning probe microscopy covers the latest in many related topics such as force spectroscopy and mapping with atomic resolution, atomic manipulation, magnetic exchange force microscopy, atomic and molecular imaging in liquids, and much more.
ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru