Контакты/Проезд
Доставка и Оплата
Помощь/Возврат
Корзина ()
Мои желания ()
История
Промокоды
Ваши заказы
+7(495) 980-12-10
пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
shop@logobook.ru
Российская литература
Поиск книг
Поиск по списку ISBN
Расширенный поиск
Найти
Зарубежные издательства
Российские издательства
Авторы
|
Каталог книг
|
Издательства
|
Новинки
|
Учебная литература
|
Акции
|
Хиты
|
|
Войти
Регистрация
Забыли?
Strain and Dislocation Gradients from Diffraction: Spatially-Resolved Local Structure and Defects, Barabash Rozaliya, Ice Gene
Варианты приобретения
Цена:
23760.00р.
Кол-во:
Наличие:
Поставка под заказ.
Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть
При оформлении заказа до:
2025-08-04
Ориентировочная дата поставки:
Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.
Добавить в корзину
в Мои желания
Автор:
Barabash Rozaliya, Ice Gene
Название:
Strain and Dislocation Gradients from Diffraction: Spatially-Resolved Local Structure and Defects
ISBN:
9781908979629
Издательство:
World Scientific Publishing
Классификация:
Микроскопические исследования
Классическая механика
ISBN-10: 1908979623
Обложка/Формат: Hardback
Страницы: 480
Вес: 0.87 кг.
Дата издания: 20.05.2014
Серия: Popular Science
Язык: English
Иллюстрации: Black & white illustrations, colour illustrations, figures, graphs
Размер: 237 x 152 x 24
Читательская аудитория: Postgraduate, research & scholarly
Ключевые слова: Microscopy, SCIENCE / Electron Microscopes & Microscopy,TECHNOLOGY & ENGINEERING / Materials Science,TECHNOLOGY & ENGINEERING / Mechanical
Рейтинг:
Поставляется из: Англии
Описание: This book highlights emerging diffraction studies of strain and dislocation gradients with mesoscale resolution, which is currently a focus of research at laboratories around the world. While ensemble-average diffraction techniques are mature, grain and subgrain level measurements needed to understand real materials are just emerging. In order to understand the diffraction signature of different defects, it is necessary to understand the distortions created by the defects and the corresponding changes in the reciprocal space of the non-ideal crystals.Starting with a review of defect classifications based on their displacement fields, this book then provides connections between different dislocation arrangements, including geometrically necessary and statistically stored dislocations, and other common defects and the corresponding changes in the reciprocal space and diffraction patterns. Subsequent chapters provide an overview of microdiffraction techniques developed during the last decade to extract information about strain and dislocation gradients. X-ray microdiffraction is a particularly exciting application compared with alternative probes of local crystalline structure, orientation and defect density, because it is inherently non-destructive and penetrating.
ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
Есть вопрос?
Политика конфиденциальности
Помощь
Дистрибьюторы издательства "Логосфера"
О компании
Представительство в Казахстане
Medpublishing.ru
В Контакте
В Контакте Мед
Мобильная версия