Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Semiconductor Nanolasers, Gu


Варианты приобретения
Цена: 19800.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Англия: Есть  Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-08-04
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Gu
Название:  Semiconductor Nanolasers
ISBN: 9781107110489
Издательство: Cambridge Academ
Классификация:
ISBN-10: 1107110483
Обложка/Формат: Hardback
Страницы: 332
Вес: 0.80 кг.
Дата издания: 16.02.2017
Серия: Physics
Язык: English
Иллюстрации: 14 tables, black and white; 96 halftones, black and white; 98 line drawings, black and white
Размер: 183 x 253 x 20
Читательская аудитория: Tertiary education (us: college)
Ключевые слова: Physics,Nanotechnology,Materials science,Electrical engineering,Electronics & communications engineering,Electronics engineering,Circuits & components,Electronic devices & materials,Applied optics, TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / Optoelectronics
Основная тема: Engineering
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Англии
Описание: The first of its kind, this comprehensive resource explains the fundamental physics of semiconductor nanolasers along with details of their design, fabrication, and applications. This is essential reading for graduate students, researchers, and professionals in optoelectronics, applied photonics, physics, and materials science.


Semiconductor Device and Failure Analysis : Using Photon Emission Microscopy

Автор: Wai Kin Chim
Название: Semiconductor Device and Failure Analysis : Using Photon Emission Microscopy
ISBN: 047149240X ISBN-13(EAN): 9780471492405
Издательство: Wiley
Рейтинг:
Цена: 30722.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Fault detection has become increasingly difficult as integrated circuits become more and more complex. Photon Emission Microscopy (PEM) is a physical failure analysis technique which locates and identifies faults in integrated circuits.

Fundamentals of Semiconductor Fabrication

Автор: May
Название: Fundamentals of Semiconductor Fabrication
ISBN: 0471232793 ISBN-13(EAN): 9780471232797
Издательство: Wiley
Рейтинг:
Цена: 24861.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: From crystal growth to integrated devices and circuits, this new book offers a basic, up-to-date introduction to semiconductor fabrication technology, including both the theoretical and practical aspects of all major steps in the fabrication sequence.

Advances in Semiconductor Lasers,86

Автор: James J Coleman
Название: Advances in Semiconductor Lasers,86
ISBN: 0123910668 ISBN-13(EAN): 9780123910660
Издательство: Elsevier Science
Рейтинг:
Цена: 28633.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Reflecting the truly interdisciplinary nature of the field, this title is part of the Semiconductors and Semimetals series. It is of interest to physicists, chemists, materials scientists, and device engineers in modern industry.

Semiconductor Spintronics

Автор: Xia
Название: Semiconductor Spintronics
ISBN: 9814327905 ISBN-13(EAN): 9789814327909
Издательство: World Scientific Publishing
Рейтинг:
Цена: 27720.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Semiconductor Spintronics, as an emerging research discipline and an important advanced field in physics, has developed quickly and obtained fruitful results. This monograph summarizes the physical foundation and the experimental results obtained in this field.

Handbook of Instrumentation and Techniques for Semiconductor Nanostructure Characterization V1

Автор: Richard Haight (Editor), Frances M. Ross (Editor),
Название: Handbook of Instrumentation and Techniques for Semiconductor Nanostructure Characterization V1
ISBN: 9814322814 ISBN-13(EAN): 9789814322812
Издательство: World Scientific Publishing
Цена: 58172.00 р.
Наличие на складе: Поставка под заказ.

Описание: Nanoscience and nanotechnology is an exciting and vibrant field of research. This handbook is suitable for researchers, engineers and advanced graduate students in various areas of nanoscience. It includes information on important techniques for unlocking the detailed science and properties of nanostructures.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия