Kipp van Schooten Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance 9783319005898

Варианты приобретения

Цена: 18167.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ. Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть
При оформлении заказа до: 2025-08-25
Ориентировочная дата поставки: начало Октября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину

в Мои желания

Автор: Kipp van Schooten
Название: Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance
ISBN: 9783319005898
Издательство: Springer
Классификация:

Физика конденсированных сред (физика веществ в жидком и твёрдом состоянии)

Нанотехнология

Электроника

Полупроводники и сверхпроводники

Прикладная оптика

ISBN-10: 3319005898
Обложка/Формат: Hardcover
Страницы: 90
Вес: 0.33 кг.
Дата издания: 30.07.2013
Серия: Springer Theses
Язык: English
Издание: 2013 ed.
Иллюстрации: Xiv, 90 p.
Размер: 234 x 152 x 13
Читательская аудитория: Professional & vocational
Основная тема: Semiconductors
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: This book lays the groundwork for further use of Electron Spin Echo Envelop Modulation (ESEEM) and opens the possibility of highly precise chemical fingerprinting. It reveals an astonishingly long memory of spin coherence in semiconductor particles.

Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance, Kipp van Schooten