Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Polarized Electrons at Surfaces, J. Kirschner


Варианты приобретения
Цена: 14365.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: J. Kirschner
Название:  Polarized Electrons at Surfaces
ISBN: 9783662152195
Издательство: Springer
Классификация:



ISBN-10: 3662152193
Обложка/Формат: Soft cover
Страницы: 160
Вес: 0.31 кг.
Дата издания: 03.10.2013
Серия: Springer Tracts in Modern Physics
Язык: English
Издание: Softcover reprint of
Иллюстрации: 8 illustrations, black and white; viii, 160 p. 8 illus.
Размер: 244 x 170 x 9
Читательская аудитория: Professional & vocational
Основная тема: Surfaces and Interfaces, Thin Films
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии


Electrons in Solids,

Автор: Richard H. Bube
Название: Electrons in Solids,
ISBN: 0121385531 ISBN-13(EAN): 9780121385538
Издательство: Elsevier Science
Рейтинг:
Цена: 8420.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Contains coverage of electronic properties in metals, semiconductors, and insulators at a fundamental level. This title stresses the use of wave properties as an integrating theme for the discussion of phonons, photons, and electrons. It includes a set of illustrative problems along with exercises and answers.

Introduction to Microscopy by Means of Light, Electrons, X Rays, or Acoustics

Автор: Theodore G. Rochow; Paul A. Tucker
Название: Introduction to Microscopy by Means of Light, Electrons, X Rays, or Acoustics
ISBN: 148991515X ISBN-13(EAN): 9781489915153
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15672.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The authors are greatly indebted to the College of Textiles of North Carolina State University at Raleigh for support from the administration there for typing, word processing, stationery, mailing, drafting diagrams, and general assistance.

Characterization of Partially Polarized Light Fields

Автор: Rosario Mart?nez-Herrero; Pedro M. Mej?as; Gemma P
Название: Characterization of Partially Polarized Light Fields
ISBN: 3642013260 ISBN-13(EAN): 9783642013263
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 18284.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Polarization involves the vectorial nature of light fields. Vectorial properties are attracting increasing attention in the literature and this is the framework and the scope of this book, which includes the authors` own contributions.

Electrons in Oxygen- and Sulphur Containing Ligands

Автор: J. D. Dunitz; P. Hemmerich; R. H. Holm; J. A. Iber
Название: Electrons in Oxygen- and Sulphur Containing Ligands
ISBN: 3662154986 ISBN-13(EAN): 9783662154984
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15672.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Interacting Electrons

Автор: Martin
Название: Interacting Electrons
ISBN: 0521871506 ISBN-13(EAN): 9780521871501
Издательство: Cambridge Academ
Рейтинг:
Цена: 12038.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This extensive textbook sets out modern methods of computing properties of materials for graduates and researchers who want to use and understand advanced tools. Including essential theoretical background, practical guidelines and instructive applications, as well as less technical topic overviews for beginners, this book illuminates the mathematics behind the methods.

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Автор: Dahoo
Название: Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
ISBN: 1848219369 ISBN-13(EAN): 9781848219366
Издательство: Wiley
Рейтинг:
Цена: 22010.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

Electrons and Phonons in Semiconductor Multilayers

Автор: Ridley
Название: Electrons and Phonons in Semiconductor Multilayers
ISBN: 1107424577 ISBN-13(EAN): 9781107424579
Издательство: Cambridge Academ
Рейтинг:
Цена: 8237.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: With new chapters on spin relaxation, the hexagonal wurtzite lattice, nitride structures, and terahertz sources, this second edition will interest graduate students and researchers in semiconductor physics. It is unique in describing the microscopic theory of optical phonons, their change in nature due to confinement, and their interaction with electrons.

Interacting Electrons and Quantum Magnetism

Автор: Assa Auerbach
Название: Interacting Electrons and Quantum Magnetism
ISBN: 1461269288 ISBN-13(EAN): 9781461269281
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 8489.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Many experimental discoveries during the last decade, including heavy fermions, fractional quantum Hall effect, high- temperature superconductivity, and quantum spin chains, are not readily accessible from the weak coupling point of view.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия