Denise Reichel Temperature Measurement during Millisecond Annealing 9783658113872

Варианты приобретения

Цена: 9141.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ. Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину

в Мои желания

Автор: Denise Reichel
Название: Temperature Measurement during Millisecond Annealing
ISBN: 9783658113872
Издательство: Springer
Классификация:

Термодинамика и теплообмен

Спектральный анализ, спектрохимия, масс-спектрометрия

Материаловедение

ISBN-10: 3658113871
Обложка/Формат: Soft cover
Страницы: 112
Вес: 0.19 кг.
Дата издания: 14.01.2016
Серия: MatWerk
Язык: English
Иллюстрации: 77 colour illustrations, 7 black & white tables, biography
Размер: 210 x 148 x 8
Читательская аудитория: Professional & vocational
Основная тема: Solid State Physics
Подзаголовок: Ripple Pyrometry for Flash Lamp Annealers
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: Denise Reichel studies the delicate subject of temperature measurement during lamp-based annealing of semiconductors, in particular during flash lamp annealing. The approach of background-correction using amplitude-modulated light to obtain the sample reflectivity is reinvented from rapid thermal annealing to apply to millisecond annealing.

Temperature Measurement during Millisecond Annealing, Denise Reichel