Kipp van Schooten Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance 9783319033280

Варианты приобретения

Цена: 13059.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ. Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину

в Мои желания

Автор: Kipp van Schooten
Название: Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance
ISBN: 9783319033280
Издательство: Springer
Классификация:

Квантовая физика (квантовая механика и квантовая теория поля)

Спектральный анализ, спектрохимия, масс-спектрометрия

Нанотехнология

Другие технологии производства

Производство высокоточных приборов

Электроника

Полупроводники и сверхпроводники

ISBN-10: 331903328X
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 90
Вес: 0.16 кг.
Дата издания: 09.08.2015
Серия: Springer Theses
Язык: English
Размер: 234 x 156 x 6
Основная тема: Physics
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: This book lays the groundwork for further use of Electron Spin Echo Envelop Modulation (ESEEM) and opens the possibility of highly precise chemical fingerprinting. It reveals an astonishingly long memory of spin coherence in semiconductor particles.

Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance, Kipp van Schooten