Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Introduction to Quantum Metrology, Waldemar Nawrocki


Варианты приобретения
Цена: 15672.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Waldemar Nawrocki
Название:  Introduction to Quantum Metrology
ISBN: 9783319384795
Издательство: Springer
Классификация:




ISBN-10: 3319384791
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 279
Вес: 0.42 кг.
Дата издания: 09.10.2016
Язык: English
Размер: 156 x 234 x 20
Основная тема: Physics
Подзаголовок: Quantum Standards and Instrumentation
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: This book presents the theory of quantum effects used in metrology and results of the author`s own research in the field of quantum electronics.


Metrology and Standardization of Nanotechnology - Protocols and Industrial Innovations

Автор: Mansfield
Название: Metrology and Standardization of Nanotechnology - Protocols and Industrial Innovations
ISBN: 3527340394 ISBN-13(EAN): 9783527340392
Издательство: Wiley
Рейтинг:
Цена: 27078.00 р.
Наличие на складе: Поставка под заказ.

Описание: Meeting the need for a reliable handbook on pertinent metrology approaches in nanomaterials, experts from European, American and Asian standardization bodies provide a balanced and comprehensive overview of the state of the art, highlighting the importance of global standards.

Advanced Mathematical And Computational Tools In Metrology And Testing Ix

Автор: Pavese Franco Et Al
Название: Advanced Mathematical And Computational Tools In Metrology And Testing Ix
ISBN: 9814397946 ISBN-13(EAN): 9789814397940
Издательство: World Scientific Publishing
Рейтинг:
Цена: 23602.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This volume contains original, refereed worldwide contributions. They were prompted by presentations made at the ninth AMCTM Conference held in G teborg (Sweden) in June 2011 on the theme of advanced mathematical and computational tools in metrology and also, in the title of this book series, in testing.The themes in this volume reflect the importance of the mathematical, statistical and numerical tools and techniques in metrology and testing and, also in keeping the challenge promoted by the Metre Convention, to access a mutual recognition for the measurement standards.

Physics of metrology

Автор: Hebra, Alexius J.
Название: Physics of metrology
ISBN: 3709116740 ISBN-13(EAN): 9783709116746
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 16977.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Conceived as a reference manual for practicing engineers, instrument designers, service technicians and engineering students. Historical anecdotes as far back as Hellenistic times to modern scientists help illustrate in an entertaining manner ideas ranging from impractical inventions in history to those that have changed our lives.

Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices

Автор: Celano
Название: Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices
ISBN: 3319395300 ISBN-13(EAN): 9783319395302
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 16769.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание:

This thesis presents the first direct observations of the 3D-shape, size and electrical properties of nanoscale filaments, made possible by a new Scanning Probe Microscopy-based tomography technique referred to as scalpel SPM. Using this innovative technology and nm-scale observations, the author achieves essential insights into the filament formation mechanisms, improves the understanding required for device optimization, and experimentally observes phenomena that had previously been only theoretically proposed.
Optical Measurements, Modeling, and Metrology, Volume 5

Автор: Tom Proulx
Название: Optical Measurements, Modeling, and Metrology, Volume 5
ISBN: 1461429056 ISBN-13(EAN): 9781461429050
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 36570.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Optical Measurements, Modeling, and Metrology represents one of eight volumes of technical papers presented at the Society for Experimental Mechanics Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics, held at Uncasville, Connecticut, June 13-16, 2011.

Coordinate metrology

Автор: Sladek, Jerzy A.
Название: Coordinate metrology
ISBN: 3662484633 ISBN-13(EAN): 9783662484630
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 20896.00 р.
Наличие на складе: Поставка под заказ.

Описание: The book describes the implementation of different methods, including artificial neural networks, the Matrix Method, the Monte Carlo method and the virtual CMM (Coordinate Measuring Machine), and demonstrates how these methods can be effectively used in practice to gauge the accuracy of coordinate measurements.

Metrology for Fire Experiments in Outdoor Conditions

Автор: Xavier Silvani
Название: Metrology for Fire Experiments in Outdoor Conditions
ISBN: 1461479614 ISBN-13(EAN): 9781461479611
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 6529.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Natural fires can be considered as scale-dependant, non-linear processes of mass, momentum and heat transport, resulting from a turbulent reactive and radiative fluid medium flowing over a complex medium, the vegetal fuel.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия