Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

MINNIE and HSpice for Analogue Circuit Simulation, D. C. Barker


Варианты приобретения
Цена: 12157.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: D. C. Barker
Название:  MINNIE and HSpice for Analogue Circuit Simulation
ISBN: 9780412427602
Издательство: Springer
Классификация:


ISBN-10: 0412427605
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 200
Вес: 0.39 кг.
Дата издания: 26.09.1991
Язык: English
Размер: 246 x 189 x 12
Основная тема: Science, Humanities and Social Sciences, multidisciplinary
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: After many years of teaching circuit theory and analogue electronic circuits the author believes that for most students the main path to obtaining a good understanding of the principles involved, as measured by their ability to apply them in a correct and intelligent manner, is through problem solving and design exercises.


Dynamic Characterisation of Analogue-to-Digital Converters

Автор: Dominique Dallet; Jos? Machado da Silva
Название: Dynamic Characterisation of Analogue-to-Digital Converters
ISBN: 1441938494 ISBN-13(EAN): 9781441938497
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 30606.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: ADC Characterisation Based on Sinewave Analysis.- ADC Applications, Architectures and Terminology.- Sinewave Test Setup.- Time-Domain Data Analysis.- Frequency-Domain Data Analysis.- Code Histogram Test.- Comparative Study of ADC Sinewave Test Methods.- Measurement of Additional Parameters.- Jitter Measurement.- Differential Gain and Phase Testing.- Step and Transient Response Measurement.- Hysteresis Measurement.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия