F.P.M. Beenker; R.G. Bennetts; A.P. Thijssen Testability Concepts for Digital ICs 9780792396581

Варианты приобретения

Цена: 30606.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ. Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину

в Мои желания

Автор: F.P.M. Beenker; R.G. Bennetts; A.P. Thijssen
Название: Testability Concepts for Digital ICs
ISBN: 9780792396581
Издательство: Springer
Классификация:

Приборы и приборостроение

ISBN-10: 0792396588
Обложка/Формат: Hardcover
Страницы: 212
Вес: 0.50 кг.
Дата издания: 30.11.1995
Серия: Frontiers in Electronic Testing
Язык: English
Размер: 234 x 156 x 14
Основная тема: Engineering
Подзаголовок: The Macro Test Approach
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: Considering the testability aspects for digital ICs, this book integrates the testability aspects into the design and manufacturing of ICs and, for each IC design project, gives a precise definition of the boundary conditions, responsibilities, interfaces and communications between persons, and quality targets.

Testability Concepts for Digital ICs, F.P.M. Beenker; R.G. Bennetts; A.P. Thijssen