P-Functions and Boolean Matrix Factorization, A. Thayse
Автор: Stephan Eggersgl??; Rolf Drechsler Название: High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability ISBN: 1489988475 ISBN-13(EAN): 9781489988478 Издательство: Springer Рейтинг: Цена: 14365.00 р. Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.
ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru