Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Phase Transitions in Surface Films 2, H. Taub; G. Torzo; H.J. Lauter; S.C. Fain Jr.


Варианты приобретения
Цена: 13974.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: H. Taub; G. Torzo; H.J. Lauter; S.C. Fain Jr.
Название:  Phase Transitions in Surface Films 2
ISBN: 9781468459722
Издательство: Springer
Классификация:

ISBN-10: 1468459724
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 518
Вес: 0.89 кг.
Дата издания: 18.03.2012
Серия: Nato Science Series B:
Язык: English
Размер: 254 x 178 x 27
Основная тема: Physics
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: Proceedings of a NATO ASI and International Course held in Erice, Sicily, Italy, June 19--29, 1990


Ion Beam Surface Layer Analysis

Автор: Otto Meyer
Название: Ion Beam Surface Layer Analysis
ISBN: 1461588782 ISBN-13(EAN): 9781461588788
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 6986.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no- vel applications.

Ion Beam Surface Layer Analysis

Автор: Otto Meyer
Название: Ion Beam Surface Layer Analysis
ISBN: 1461588812 ISBN-13(EAN): 9781461588818
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 12157.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no- vel applications.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия