Selahattin Sayil Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques 9783319888194

Варианты приобретения

Цена: 13974.00р.
Кол-во:
о цене
Наличие: Отсутствует. Возможна поставка под заказ.

При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину

в Мои желания

Автор: Selahattin Sayil
Название: Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
ISBN: 9783319888194
Издательство: Springer
Классификация:

Социальные исследования и статистика

Электроника

Схемы и компоненты

Архитектура и логическое построение вычислительных систем

ISBN-10: 3319888196
Обложка/Формат: Soft cover
Страницы: 93
Вес: 0.23 кг.
Дата издания: 2018
Язык: English
Издание: Softcover reprint of
Иллюстрации: 11 illustrations, color; 23 illustrations, black and white; v, 93 p. 34 illus., 11 illus. in color.
Размер: Book (Paperback Initiative)
Читательская аудитория: Professional & vocational
Основная тема: Engineering
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: This book provides readers with a comprehensive overview of the state-of-the-art in optical contactless probing approaches, in order to fill a gap in the literature on VLSI Testing. The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing. The techniques described in this book address the increasing demands for internal access of the logic state of a node within a chip under test.
Дополнительное описание: 1. Conventional Test Methods. – 2. Testability Design.- 3. Other Techniques Based on the Contacting Probe.- 4. Contactless Testing.- 5. Electron-Beam and Photoemission Probing.- 6. Electro Optic Sampling and Charge Density Probe.- 7. Electric Force Micros

Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques, Selahattin Sayil