Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Electron and Ion Microscopy and Microanalysis, 


Варианты приобретения
Цена: 10104.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания


Название:  Electron and Ion Microscopy and Microanalysis
ISBN: 9780367402945
Издательство: Taylor&Francis
Классификация:
ISBN-10: 0367402947
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 856
Вес: 1.58 кг.
Дата издания: 20.12.2019
Язык: English
Издание: 2 ed
Размер: 252 x 175 x 48
Читательская аудитория: Tertiary education (us: college)
Основная тема: Optoelectronics
Подзаголовок: Principles and Applications, Second Edition,
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Европейский союз
Описание: The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr


X-Ray Optics and Microanalysis 1992, Proceedings of the 13th INT  Conference, 31 August-4 September 1992, Manchester, UK

Автор: Kenway, P.B.
Название: X-Ray Optics and Microanalysis 1992, Proceedings of the 13th INT Conference, 31 August-4 September 1992, Manchester, UK
ISBN: 0750302550 ISBN-13(EAN): 9780750302555
Издательство: Taylor&Francis
Рейтинг:
Цена: 22968.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия