Контакты/Проезд
Доставка и Оплата
Помощь/Возврат
Корзина ()
Мои желания ()
История
Промокоды
Ваши заказы
+7(495) 980-12-10
пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
shop@logobook.ru
Российская литература
Поиск книг
Поиск по списку ISBN
Расширенный поиск
Найти
Зарубежные издательства
Российские издательства
Авторы
|
Каталог книг
|
Издательства
|
Новинки
|
Учебная литература
|
Акции
|
Хиты
|
|
Войти
Регистрация
Забыли?
Principles of Extreme Mechanics (XM) in Design for Reliability (Dfr) for Advanced and Emerging Micro/Nanoscale Devices and Systems: With Special Empha, Budiman Arief Suriadi
Варианты приобретения
Цена:
22359.00р.
Кол-во:
Наличие:
Поставка под заказ.
Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть
При оформлении заказа до:
2025-07-28
Ориентировочная дата поставки:
Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.
Добавить в корзину
в Мои желания
Автор:
Budiman Arief Suriadi
Название:
Principles of Extreme Mechanics (XM) in Design for Reliability (Dfr) for Advanced and Emerging Micro/Nanoscale Devices and Systems: With Special Empha
ISBN:
9789811567193
Издательство:
Springer
Классификация:
Классическая механика
Механика твердых тел
Испытания материалов
ISBN-10: 9811567190
Обложка/Формат: Hardcover
Страницы: 292
Вес: 0.54 кг.
Дата издания: 29.10.2021
Серия: Engineering materials
Язык: English
Издание: 1st ed. 2022
Иллюстрации: 88 illustrations, color; 25 illustrations, black and white; xi, 247 p. 113 illus., 88 illus. in color.
Размер: 23.39 x 15.60 x 1.60 cm
Читательская аудитория: Professional & vocational
Подзаголовок: With special emphasis on recent advances in materials characterization and experimentation techniques
Ссылка на Издательство:
Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: This book addresses issues pertinent to mechanics and stress generation, especially in recent advanced cases of technology developments, spanning from micrometer interconnects in solar photovoltaics (PV), next-gen energy storage devices to multilayers of nano-scale composites enabling novel stretchable/flexible conductor technologies. In these cases, the mechanics of materials have been pushed to the extreme edges of human knowledge to enable cutting-edge, unprecedented functionalities and technological innovations. Synchrotron X-ray diffraction, in situ small-scale mechanical testing combined with physics-based computational modeling/simulation, has been widely used approaches to probe these mechanics of the materials at their extreme limits due to their recently discovered distinct advantages. The techniques discussed in this manuscript are highlights specially curated from the broad body of work recently reported in the literature, especially ones that the author had led the pursuits at the frontier himself. Extreme stress generation in these advanced material leads to often new failure modes, and hence, the reliability of the final product is directly affected. From the recent topics and various advanced case studies covered in this book, the reader gets an updated knowledge of how new mechanics can and has been applied in Design-for-Reliability (DfR) for some of the latest technological innovations known in our modern world. Further, this also helps in building better designs, which may avoid the pitfalls of the current practiced trends.
Дополнительное описание: 1. Introduction.- 2. Mechanics of Materials.- 3. Reliability of Devices, Technologies and Systems.- 4. Advanced Micro/Nanoelectronics, Microsystems and MEMS Devices and Technologies.- 5. Next Generation Energy Technologies and Systems.- 6. Conclusions.
ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
Есть вопрос?
Политика конфиденциальности
Помощь
Дистрибьюторы издательства "Логосфера"
О компании
Представительство в Казахстане
Medpublishing.ru
В Контакте
В Контакте Мед
Мобильная версия