Grasser Tibor, Selberherr Siegfried Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2007 / SISPAD 2007 9783211728604

Варианты приобретения

Цена: 25853.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ. Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину

в Мои желания

Автор: Grasser Tibor, Selberherr Siegfried
Название: Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2007 / SISPAD 2007
ISBN: 9783211728604
Издательство: Springer
Классификация:

Инженерное дело: Общие вопросы

Нанотехнология

Электроника

Полупроводники и сверхпроводники

ISBN-10: 3211728600
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 460
Вес: 0.76 кг.
Дата издания: 2007
Язык: English
Иллюстрации: Biography
Размер: 24.64 x 17.02 x 2.29
Читательская аудитория: Postgraduate, research & scholarly
Подзаголовок: Sispad 2007
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: This volume will contain the proceedings of the 12th edition of the International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD 2007), which will take place in Vienna, Austria, on September 25-27, 2007. Like the previous meetings, SISPAD 2007 will provide a world-wide forum for the presentation and discussion of recent advances and developments in the theoretical description, physical modeling and numerical simulation and analysis of semiconductor fabrication processes, device operation and system performance. Topics covered will be device simulation, including transport in nano-structures models of VLSI device scaling limits, quantum effects, and novel devices process simulation, including both continuum and atomistic approaches equipment, topography, and lithography simulation interconnect modeling and algorithms including noise and parasitic effects compact device modeling for circuit simulation integration of circuit and device simulation user interfaces and visualization high performance computing, numerical methods and algorithms mesh generation and adaptation simulation of such devices as microsensor and optoelectronics devices benchmarking, calibration, and verification of simulators.
Дополнительное описание: Формат: 242x170
Илюстрации: 450
Круг читателей: Researchers, electrical and electronics engineers
Ключевые слова: device operation
device technology
fabrication processes
numerical simulation
physical modeling
system performance
Язык: eng
Издание: first edition

Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2007 / SISPAD 2007, Grasser Tibor, Selberherr Siegfried