Design for Manufacturability, Balasinski Artur

Автор: Artur Balasinski
Название: Design for Manufacturability
ISBN: 1493943421 ISBN-13(EAN): 9781493943425
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 14365.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book explains integrated circuit design for manufacturability (DfM) at the product level (packaging, applications) and applies engineering DfM principles to the latest standards of product development at 22 nm technology nodes.

Автор: Bei Yu; David Z. Pan
Название: Design for Manufacturability with Advanced Lithography
ISBN: 3319373935 ISBN-13(EAN): 9783319373935
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 11179.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book introduces readers to the most advanced research results on Design for Manufacturability (DFM) with multiple patterning lithography (MPL) and electron beam lithography (EBL).

Автор: Bei Yu; David Z. Pan
Название: Design for Manufacturability with Advanced Lithography
ISBN: 3319203843 ISBN-13(EAN): 9783319203843
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 11179.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book introduces readers to the most advanced research results on Design for Manufacturability (DFM) with multiple patterning lithography (MPL) and electron beam lithography (EBL).

Автор: Michael Orshansky; Sani Nassif; Duane Boning
Название: Design for Manufacturability and Statistical Design
ISBN: 1441940448 ISBN-13(EAN): 9781441940445
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 26120.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Design for Manufacturability and Statistical Design: A Comprehensive Approach presents a comprehensive overview of methods that need to be mastered in understanding state-of-the-art design for manufacturability and statistical design methodologies.

Автор: Koen Lampaert; Georges Gielen; Willy M.C. Sansen
Название: Analog Layout Generation for Performance and Manufacturability
ISBN: 0792384792 ISBN-13(EAN): 9780792384793
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 22354.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Outlines a criterion to quantify the detectability of a fault and combines this with a yield model to evaluate the testability of an integrated circuit layout. This book is intended for analog engineers, researchers and students.