Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications, Demkov


Варианты приобретения
Цена: 4118.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-08-04
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Demkov
Название:  CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications
ISBN: 9781107408326
Издательство: Cambridge Academ
Классификация:

ISBN-10: 1107408326
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 194
Вес: 0.27 кг.
Дата издания: 05.06.2014
Серия: Engineering
Язык: English
Размер: 229 x 152 x 10
Читательская аудитория: Professional and scholarly
Ключевые слова: Materials science, TECHNOLOGY & ENGINEERING / Materials Science
Основная тема: Engineering
Ссылка на Издательство: Link
Поставляется из: Англии
Описание: The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.


Fluctuations and Scaling in Biology (Paperback)

Автор: Vicsek, Tamas
Название: Fluctuations and Scaling in Biology (Paperback)
ISBN: 0198507909 ISBN-13(EAN): 9780198507901
Издательство: Oxford Academ
Рейтинг:
Цена: 11563.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: During the last decade the well established tools of statistical physics have been sucessfully appled to an increasing number of biological phenomena, including fractal pattern formation, group motion in organisms from bacteria to humans, and the mechanisms by which fluctuations are rectified in the cells molecular machinery.

Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling

Автор: Ramanathan
Название: Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling
ISBN: 1107407982 ISBN-13(EAN): 9781107407985
Издательство: Cambridge Academ
Цена: 4277.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This proceedings volume contains papers presented at Symposium I, `Materials for End-of-Roadmap Scaling of CMOS Devices`, and Symposium J, `Materials and Devices for Beyond CMOS Scaling`, held April 5-9 at the 2010 MRS Spring Meeting in San Francisco, California. These symposia attracted 106 presentations, of which twenty-two were invited.

Scaling up Machine Learning

Автор: Bekkerman
Название: Scaling up Machine Learning
ISBN: 0521192242 ISBN-13(EAN): 9780521192248
Издательство: Cambridge Academ
Рейтинг:
Цена: 14731.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: In many practical situations it is impossible to run existing machine learning methods on a single computer, because either the data is too large or the speed and throughput requirements are too demanding. Researchers and practitioners will find here a variety of machine learning methods developed specifically for parallel or distributed systems, covering algorithms, platforms and applications.

Us, Relatives: Scaling and Plural Life in a Forager World

Автор: Bird-David Nurit
Название: Us, Relatives: Scaling and Plural Life in a Forager World
ISBN: 0520293401 ISBN-13(EAN): 9780520293403
Издательство: Wiley
Рейтинг:
Цена: 12672.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Explores how scalar blindness skews our understanding of these cultures and the debates they inspire. This book elaborates on indigenous modes of "being many" that have been eclipsed by scale-blind anthropology, which generally uses its large-scale conceptual language of persons, relations, and ethnic groups for even tiny communities.

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications

Автор: Demkov
Название: CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications
ISBN: 1605111287 ISBN-13(EAN): 9781605111285
Издательство: Cambridge Academ
Рейтинг:
Цена: 14890.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling

Автор: Ramanathan
Название: Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling
ISBN: 1605112291 ISBN-13(EAN): 9781605112299
Издательство: Cambridge Academ
Рейтинг:
Цена: 14890.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This proceedings volume contains papers presented at Symposium I, `Materials for End-of-Roadmap Scaling of CMOS Devices`, and Symposium J, `Materials and Devices for Beyond CMOS Scaling`, held April 5-9 at the 2010 MRS Spring Meeting in San Francisco, California. These symposia attracted 106 presentations, of which twenty-two were invited.

Scaling Limits in Statistical Mechanics and Microstructures in Continuum Mechanics

Автор: Errico Presutti
Название: Scaling Limits in Statistical Mechanics and Microstructures in Continuum Mechanics
ISBN: 3642092365 ISBN-13(EAN): 9783642092367
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 12577.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Collective behavior in systems with many components, blow-ups with emergence of microstructures are proofs of the double, continuum and atomistic, nature of macroscopic systems, an issue which has always intrigued scientists and philosophers.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия