Posser Electromigration Inside Logic Cells 9783319488981

Варианты приобретения

Цена: 12157.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ. Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину

в Мои желания

Автор: Posser
Название: Electromigration Inside Logic Cells
ISBN: 9783319488981
Издательство: Springer
Классификация:

Электроника

Схемы и компоненты

Архитектура и логическое построение вычислительных систем

ISBN-10: 3319488988
Обложка/Формат: Hardback
Страницы: 118
Вес: 0.38 кг.
Дата издания: 2017
Язык: English
Иллюстрации: 3 black & white illustrations, 69 colour illustrations, 35 colour tables, biography
Размер: 234 x 156 x 10
Читательская аудитория: Professional & vocational
Основная тема: Electrical Engineering
Подзаголовок: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power. The authors are the first to analyze and propose a solution for the electromigration effects inside logic cells of a circuit. They show in this book that an interconnect inside a cell can fail reducing considerably the circuit lifetime and they demonstrate a methodology to optimize the lifetime of circuits, by placing the output, Vdd and Vss pin of the cells in the less critical regions, where the electromigration effects are reduced. Readers will be enabled to apply this methodology only for the critical cells in the circuit, avoiding impact in the circuit delay, area and performance, thus increasing the lifetime of the circuit without loss in other characteristics.
Дополнительное описание: Chapter 1. Introduction.- Chapter 2. State of the Art.- Chapter 3. Modeling Cell-internal EM.- Chapter 4. Current Calculation.- Chapter 5. Experimental Setup.- Chapter 6.Results.- Chapter 7. Analyzing the Electromigration Effects on Different Metal Layers

Electromigration Inside Logic Cells, Posser