|
Transistor Scaling, Thompson |
|
Автор: Demkov Название: CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications ISBN: 1605111287 ISBN-13(EAN): 9781605111285 Издательство: Cambridge Academ Рейтинг: Цена: 14890.00 р. Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.
Описание: The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. |
|
| |
|