Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Development of an Ultrafast Low-Energy Electron Diffraction Setup, Max Gulde


Варианты приобретения
Цена: 15672.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Max Gulde
Название:  Development of an Ultrafast Low-Energy Electron Diffraction Setup
ISBN: 9783319185606
Издательство: Springer
Классификация:



ISBN-10: 3319185608
Обложка/Формат: Hardcover
Страницы: 155
Вес: 0.40 кг.
Дата издания: 10.06.2015
Серия: Springer Theses
Язык: English
Иллюстрации: 34 black & white illustrations, 28 colour illustrations, biography
Размер: 234 x 156 x 11
Читательская аудитория: Professional & vocational
Основная тема: Surface and Interface Science, Thin Films
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: This book presents an Ultrafast Low-Energy Electron Diffraction (ULEED) system that reveals ultrafast structural changes on the atomic scale. This new experimental approach permits time-resolved structural investigations of systems that were previously partially or totally inaccessible, including surfaces, interfaces and atomically thin films.


Reflection High-Energy Electron Diffraction and Reflection Electron Imaging of Surfaces

Автор: P.K. Larsen; P.J. Dobson
Название: Reflection High-Energy Electron Diffraction and Reflection Electron Imaging of Surfaces
ISBN: 1468455826 ISBN-13(EAN): 9781468455823
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15672.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Proceedings of a NATO ARW held in Veldhoven, The Netherlands, June 15-19, 1987

Low-Energy Electron Diffraction

Автор: Michel A. VanHove; William Henry Weinberg; Chi-Min
Название: Low-Energy Electron Diffraction
ISBN: 3642827233 ISBN-13(EAN): 9783642827235
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 11101.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Surface crystallography plays the same fundamental role in surface science which bulk crystallography has played so successfully in solid-state physics and chemistry.

Electron Diffraction and High-Resolution Electron Microscopy of Mineral Structures

Автор: Bella B. Smoliar; Victor A. Drits
Название: Electron Diffraction and High-Resolution Electron Microscopy of Mineral Structures
ISBN: 3642717314 ISBN-13(EAN): 9783642717314
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 14365.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: By that time, I had at my disposal certain structural data on natural and synthetic minerals obtained using SAED and high-resolution electron microscopy (HREM), and this stimulated my writing this book.

Elastic and Inelastic Scattering in Electron Diffraction and Imaging

Автор: Zhong-lin Wang
Название: Elastic and Inelastic Scattering in Electron Diffraction and Imaging
ISBN: 1489915818 ISBN-13(EAN): 9781489915818
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 28734.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: For a long time, I have wished to systematically summarize various dynamic theories associated with quantitative electron micros- copy and their applications in simulations of electron diffraction patterns and images. This book assumes that readers have some preknowledge of electron microscopy, electron diffraction, and quantum mechanics.

Low-Temperature X-Ray Diffraction

Автор: Reuben Rudman
Название: Low-Temperature X-Ray Diffraction
ISBN: 1461587735 ISBN-13(EAN): 9781461587736
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 14365.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Low-temperature X-ray diffraction (LTXRD) investigations offer many challenges to the diffractionist, not all of which are technical or scientific in nature.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия