Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films, Karsten Hinrichs; Klaus-Jochen Eichhorn

Автор: Maria Losurdo; Kurt Hingerl
Название: Ellipsometry at the Nanoscale
ISBN: 3662519712 ISBN-13(EAN): 9783662519714
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 32651.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book examines ellipsometry in nanoscience and nanotechnology. It delineates the role of the non-destructive and non-invasive optical diagnostics of ellipsometry in improving the science and technology of nanomaterials and related processes.

Автор: Mathias Schubert
Название: Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures
ISBN: 3642062288 ISBN-13(EAN): 9783642062285
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 28732.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.

Автор: Karl Riedling
Название: Ellipsometry for Industrial Applications
ISBN: 321182040X ISBN-13(EAN): 9783211820407
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 13060.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: During the past years, elliposometry, a non-destructive and contact-less optical surface analysis technique, has gained increased importance in industrial areas, such as the technology of electronic devices, when simple instruments, many of them computer-controlled and automated, became available.