Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures, Mathias Schubert


Варианты приобретения
Цена: 28732.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Mathias Schubert
Название:  Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures
ISBN: 9783642062285
Издательство: Springer
Классификация:





ISBN-10: 3642062288
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 196
Вес: 0.30 кг.
Дата издания: 23.11.2010
Серия: Springer Tracts in Modern Physics
Язык: English
Размер: 234 x 156 x 11
Основная тема: Physics
Подзаголовок: Phonons, Plasmons, and Polaritons
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.


Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films

Автор: Karsten Hinrichs; Klaus-Jochen Eichhorn
Название: Ellipsometry of Functional Organic Surfaces and Films
ISBN: 3662510200 ISBN-13(EAN): 9783662510209
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15672.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book provides a state-of-the-art survey of ellipsometric investigations of organic films and surfaces, from laboratory to synchrotron applications, with a special focus on in-situ use in processing environments and at solid-liquid interfaces.

Ellipsometry at the Nanoscale

Автор: Maria Losurdo; Kurt Hingerl
Название: Ellipsometry at the Nanoscale
ISBN: 3662519712 ISBN-13(EAN): 9783662519714
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 32651.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book examines ellipsometry in nanoscience and nanotechnology. It delineates the role of the non-destructive and non-invasive optical diagnostics of ellipsometry in improving the science and technology of nanomaterials and related processes.

Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a Harsh Environment

Автор: Denis Flandre; Alexei N. Nazarov; Peter L.F. Hemme
Название: Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a Harsh Environment
ISBN: 1402030118 ISBN-13(EAN): 9781402030116
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 33401.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Collects the papers presented during NATO Advanced Research Workshop `Science and technology of Semiconductor on Insulator (SOI) structures and devices operating in a harsh environment` held in Kiev 26-30 April 2004. This volume contains both reviews from invited speakers and selected papers presenting innovations in SOI materials and devices.

Light Scattering in Semiconductor Structures and Superlattices

Автор: D.J. Lockwood; Jeff F. Young
Название: Light Scattering in Semiconductor Structures and Superlattices
ISBN: 1489936971 ISBN-13(EAN): 9781489936974
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 38992.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Proceedings of a NATO ARW held in Mont-Tremblant, Quebec, Canada, March 5--9, 1990

Low-Dimensional Semiconductor Structures

Автор: Torchynska
Название: Low-Dimensional Semiconductor Structures
ISBN: 1605115940 ISBN-13(EAN): 9781605115948
Издательство: Cambridge Academ
Рейтинг:
Цена: 15048.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This MRS Proceedings book contains the papers presented in Symposium 7E: `Low-Dimensional Semiconductor Structures` at XXII International Material Research Congress, IMRC 2013, and in Symposium 6B: `Low-Dimensional Semiconductor Structures` at XXI International Material Research Congress, IMRC 2012, which were held in Cancun, Mexico on August 11-15, 2013 and August 12-16, 2012, respectively.

Low Dimensional Semiconductor Structures

Автор: Hilmi ?nl?; Norman J. M. Horing
Название: Low Dimensional Semiconductor Structures
ISBN: 3642446035 ISBN-13(EAN): 9783642446030
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 19589.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book covers the physics of low dimensional semiconductor structures, including heterostructures, superlattices, quantum wells, wires and dots and more. Examines the exceptional material Graphene, and includes chapters on nanoengineering and nanophysics.

Devices Based on Low-Dimensional Semiconductor Structures

Автор: M. Balkanski
Название: Devices Based on Low-Dimensional Semiconductor Structures
ISBN: 9401066159 ISBN-13(EAN): 9789401066150
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 34799.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Sozopol, Bulgaria, September 19-30, 1996

X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures

Автор: Martin Schmidbauer
Название: X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures
ISBN: 3642057691 ISBN-13(EAN): 9783642057694
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 27951.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scattering for the structural characterization of mesoscopic material systems.

Optical Phenomena in Semiconductor Structures of Reduced Dimensions

Автор: D.J. Lockwood; Aron Pinczuk
Название: Optical Phenomena in Semiconductor Structures of Reduced Dimensions
ISBN: 9401048452 ISBN-13(EAN): 9789401048453
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 6986.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Frontiers of Optical Phenomena in Semiconductor Structures of Reduced Dimensions, Yountville, California, USA, July 27-31, 1992


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия