Low Dimensional Semiconductor Structures, Hilmi ?nl?; Norman J. M. Horing

Автор: M. Balkanski
Название: Devices Based on Low-Dimensional Semiconductor Structures
ISBN: 9401066159 ISBN-13(EAN): 9789401066150
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 34799.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Sozopol, Bulgaria, September 19-30, 1996

Автор: R.F.C. Farrow; S.S.P. Parkin; P.J. Dobson; J.H. Ne
Название: Thin Film Growth Techniques for Low-Dimensional Structures
ISBN: 1468491474 ISBN-13(EAN): 9781468491470
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 12157.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This work represents the account of a NATO Advanced Research Workshop on "Thin Film Growth Techniques for Low Dimensional Structures", held at the University of Sussex, Brighton, England from 15-19 Sept.

Автор: Marco Fanciulli
Название: Electron Spin Resonance and Related Phenomena in Low-Dimensional Structures
ISBN: 3642260136 ISBN-13(EAN): 9783642260131
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 20962.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Here is a discussion of the state of the art of spin resonance in low dimensional structures, such as two-dimensional electron systems, quantum wires, and quantum dots. Leading scientists report on recent advances and discuss open issues and perspectives.

Автор: Denis Flandre; Alexei Nazarov; Peter L.F. Hemment
Название: Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a Harsh Environment
ISBN: 1402030126 ISBN-13(EAN): 9781402030123
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 20263.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Collects the papers presented during NATO Advanced Research Workshop "Science and technology of Semiconductor on Insulator (SOI) structures and devices operating in a harsh environment". Presenting various innovations in SOI materials and devices, the papers focus on the reliability of SOI structures operating under harsh conditions.

Автор: Mathias Schubert
Название: Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures
ISBN: 3642062288 ISBN-13(EAN): 9783642062285
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 28732.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.

Автор: Denis Flandre; Alexei N. Nazarov; Peter L.F. Hemme
Название: Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a Harsh Environment
ISBN: 1402030118 ISBN-13(EAN): 9781402030116
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 33401.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Collects the papers presented during NATO Advanced Research Workshop `Science and technology of Semiconductor on Insulator (SOI) structures and devices operating in a harsh environment` held in Kiev 26-30 April 2004. This volume contains both reviews from invited speakers and selected papers presenting innovations in SOI materials and devices.

Автор: D.J. Lockwood; Aron Pinczuk
Название: Optical Phenomena in Semiconductor Structures of Reduced Dimensions
ISBN: 9401048452 ISBN-13(EAN): 9789401048453
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 6986.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Frontiers of Optical Phenomena in Semiconductor Structures of Reduced Dimensions, Yountville, California, USA, July 27-31, 1992

Автор: Martin Schmidbauer
Название: X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures
ISBN: 3642057691 ISBN-13(EAN): 9783642057694
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 27951.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scattering for the structural characterization of mesoscopic material systems.

Автор: Hamid Bentarzi
Название: Transport in Metal-Oxide-Semiconductor Structures
ISBN: 3642266886 ISBN-13(EAN): 9783642266881
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 18167.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Reviewing the state-of-the-art in the field, this volume describes the importance of mobile ions presented in oxide structures. The text defines the MOS structure, and provides an overview of onic transport mechanisms and techniques for measuring the mobile ions concentration in the oxides.