Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

The Simulation of Thermomechanically Induced Stress in Plastic Encapsulated IC Packages, Gerard Kelly


Варианты приобретения
Цена: 20896.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Gerard Kelly
Название:  The Simulation of Thermomechanically Induced Stress in Plastic Encapsulated IC Packages
ISBN: 9780792384854
Издательство: Springer
Классификация:


ISBN-10: 0792384857
Обложка/Формат: Hardcover
Страницы: 134
Вес: 0.41 кг.
Дата издания: 30.04.1999
Язык: English
Размер: 234 x 156 x 11
Основная тема: Engineering
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: Deals with understanding the complex stress distributions, transfer mechanisms, warpage, and potential failures arising from the encapsulation of devices in plastic. This book emphasises on the correct use of finite element tools for these problems.


Moisture Sensitivity of Plastic Packages of IC Devices

Автор: X.J. Fan; E. Suhir
Название: Moisture Sensitivity of Plastic Packages of IC Devices
ISBN: 1461426251 ISBN-13(EAN): 9781461426257
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 34937.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book provides information on the state-of-the-art techniques and methodologies related to moisture issues in plastic packages. It includes numerous industrial applications, along with the results of the most recent research and development efforts.

Failure Modes and Mechanisms in Electronic Packages

Автор: P. Singh; Puligandla Viswanadham
Название: Failure Modes and Mechanisms in Electronic Packages
ISBN: 1461377633 ISBN-13(EAN): 9781461377634
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 26122.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: With the proliferation of packaging technology, failure and reliability have become serious concerns. This invaluable reference details processes that enable detection, analysis and prevention of failures. It provides a comprehensive account of the failures of device packages, discrete component connectors, PCB carriers and PCB assemblies.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия