Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Steep Dispersion Engineering and Opto-Atomic Precision Metrology XI, Selim Shahriar, Jacob Scheuer


Варианты приобретения
Цена: 19820.00р.
Кол-во:
 о цене
Наличие: Отсутствует. 
Возможна поставка под заказ. Дата поступления на склад уточняется после оформления заказа


Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Selim Shahriar, Jacob Scheuer
Название:  Steep Dispersion Engineering and Opto-Atomic Precision Metrology XI
ISBN: 9781510615816
Издательство: Mare Nostrum (Eurospan)
Классификация:
ISBN-10: 1510615814
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 140
Вес: 0.00 кг.
Дата издания: 30.07.2018
Серия: Proceedings of spie
Язык: English
Размер: 279 x 216
Читательская аудитория: Professional and scholarly
Ключевые слова: Applied optics
Рейтинг:
Поставляется из: Англии
Описание: Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.


Автор: Selim Shahriar, Jacob Scheuer
Название: Slow Light, Fast Light, and Opto-Atomic Precision Metrology X
ISBN: 1510606793 ISBN-13(EAN): 9781510606791
Издательство: Mare Nostrum (Eurospan)
Рейтинг:
Цена: 18295.00 р.
Наличие на складе: Нет в наличии.

Описание: Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

Dispersion, Complex Analysis and Optical Spectroscopy

Автор: Kai-Erik Peiponen; Erik M. Vartiainen; Toshimitsu
Название: Dispersion, Complex Analysis and Optical Spectroscopy
ISBN: 3642084184 ISBN-13(EAN): 9783642084188
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 25853.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book is devoted to dispersion theory in linear and nonlinear optics. Dispersion relations and methods of analysis in optical spectroscopy are derived with the aid of complex analysis. In addition, it presents the dispersion theory of the nonlinear optical processes which are essential in modern optical spectroscopy.

Crystal Optics with Spatial Dispersion, and Excitons

Автор: Vladimir M. Agranovich; V. Ginzburg
Название: Crystal Optics with Spatial Dispersion, and Excitons
ISBN: 366202408X ISBN-13(EAN): 9783662024089
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 14365.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Spatial dispersion, namely, the dependence of the dielectric-constant tensor on the wave vector (i.e., on the wavelength) at a fixed frequency, is receiving increased attention in electrodynamics and condensed-matter optics, partic- ularly in crystal optics.

Optical Metrology

Автор: Oliv?rio D.D. Soares
Название: Optical Metrology
ISBN: 9401081158 ISBN-13(EAN): 9789401081153
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 12157.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Proceedings of the NATO Advanced Study Institute held in Viana do Castelo, Portugal, July 16-27, 1984


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия