Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

In-Situ Transmission Electron Microscopy, Sun


Варианты приобретения
Цена: 22359.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Sun
Название:  In-Situ Transmission Electron Microscopy
ISBN: 9789811968440
Издательство: Springer
Классификация:





ISBN-10: 9811968446
Обложка/Формат: Hardback
Страницы: 371
Вес: 0.82 кг.
Дата издания: 22.02.2023
Язык: English
Издание: 1st ed. 2023
Иллюстрации: 157 illustrations, color; 37 illustrations, black and white; xiii, 371 p. 194 illus., 157 illus. in color.
Размер: 235 x 155
Читательская аудитория: Professional & vocational
Основная тема: Materials Science
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: This book focuses on in-situ transmission electron microscopy (TEM), an investigatory technique used to observe a sample’s response to a given stimulus (including electron irradiation, thermal excitation, mechanical force, optical excitation, electric and magnetic fields) at the nanoscale in real time. The book introduces readers to the technical strategy behind the in-situ technique and its developments. It reviews the research frontiers of using in-situ TEM in energy conversion and storage, catalysis, nanomaterials synthesis, nanoelectronics, etc. Furthermore, it discusses the future prospects for in-situ TEM. The book offers a valuable guide for all undergraduate and graduate students who are interested in TEM characterization technology. It also serves as a reference source on cutting-edge in-situ techniques for researchers and engineers.
Дополнительное описание: In-situ TEM: History and Status.- Electron irradiation effects and in-situ irradiation.- In-situ Nanomechanical TEM.- In-situ Heating TEM.- In-situ Basing TEM.- In-situ Photoelectric TEM.- Lorentz TEM.- Liquid cell TEM.- Environment TEM.- Ultrafast TEM.-



Analytical Transmission Electron Microscopy

Автор: J?rgen Thomas; Thomas Gemming
Название: Analytical Transmission Electron Microscopy
ISBN: 9401779880 ISBN-13(EAN): 9789401779883
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 10447.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Based on the authors` years of experience as instructors, this book is an introduction for all persons who want to use a transmission electron microscope. Offers illustrative examples, simple models and practical hints on analytical transmission microscopy.

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Автор: Brent Fultz; James Howe
Название: Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
ISBN: 3642433154 ISBN-13(EAN): 9783642433153
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 13059.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book explains aspects of transmission electron microscopy and x-ray diffractometry that are important for characterization of materials. The 4th edition adds new techniques such as electron tomography, nanobeam diffraction and geometric phase analysis.

In Situ Transmission Electron Microscopy Studies of Carbon Nanotube Nucleation Mechanism and Carbon Nanotube-Clamped Metal Atomic Chains

Автор: Dai-Ming Tang
Название: In Situ Transmission Electron Microscopy Studies of Carbon Nanotube Nucleation Mechanism and Carbon Nanotube-Clamped Metal Atomic Chains
ISBN: 3662524112 ISBN-13(EAN): 9783662524114
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15672.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book describes real-time observation and atomic level monitoring and machining using an in situ transmission electron microscopy (TEM) approach to investigate growth of carbon nanotubes and fabrication and properties of CNT-clamped metal atomic chains.

In Situ Transmission Electron Microscopy Studies of Carbon Nanotube Nucleation Mechanism and Carbon Nanotube-Clamped Metal Atomic Chains

Автор: Dai-Ming Tang
Название: In Situ Transmission Electron Microscopy Studies of Carbon Nanotube Nucleation Mechanism and Carbon Nanotube-Clamped Metal Atomic Chains
ISBN: 3642372589 ISBN-13(EAN): 9783642372582
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15372.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book describes real-time observation and atomic level monitoring and machining using an in situ transmission electron microscopy (TEM) approach to investigate growth of carbon nanotubes and fabrication and properties of CNT-clamped metal atomic chains.

In-Situ Microscopy in Materials Research

Автор: Pratibha L. Gai
Название: In-Situ Microscopy in Materials Research
ISBN: 0792399897 ISBN-13(EAN): 9780792399896
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 30606.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: 2 Lorentz Microscopy 287 Observation of Superconducting Vortices 288 3. 1 Superconducting Vortices Observed by Interference Microscopy 288 3. 1 Profile Mode 288 3. 2 Transmission Mode 291 3. 2 Superconducting Vortices Observed by Lorentz Microscopy 293 3. 3 Observation of Vortex Interaction with Pinning Centers 294 3. 1 Surface Steps 295 3.

In-Situ Microscopy in Materials Research

Автор: Pratibha L. Gai
Название: In-Situ Microscopy in Materials Research
ISBN: 1461378508 ISBN-13(EAN): 9781461378501
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 30606.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: 2 Lorentz Microscopy 287 Observation of Superconducting Vortices 288 3. 1 Superconducting Vortices Observed by Interference Microscopy 288 3. 1 Profile Mode 288 3. 2 Transmission Mode 291 3. 2 Superconducting Vortices Observed by Lorentz Microscopy 293 3. 3 Observation of Vortex Interaction with Pinning Centers 294 3. 1 Surface Steps 295 3.

In Situ Hybridization in Electron Microscopy

Автор: Morel, Gerard , Cavalier, Annie , Williams, Lynd
Название: In Situ Hybridization in Electron Microscopy
ISBN: 0367455374 ISBN-13(EAN): 9780367455378
Издательство: Taylor&Francis
Рейтинг:
Цена: 9492.00 р.
Наличие на складе: Поставка под заказ.

Описание: In situ hybridization is a technique that allows for the visualization of specific DNA and RNA sequences in individual cells, and is an especially important method for studying nucleic acids in heterogeneous cell populations. in situ Hybridization in Electron Microscopy reviews the three main methods and describes the different stages in detail: th

Advanced Transmission Electron Microscopy

Автор: Jian Min Zuo; John C.H. Spence
Название: Advanced Transmission Electron Microscopy
ISBN: 1493982494 ISBN-13(EAN): 9781493982493
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 12577.00 р.
Наличие на складе: Поставка под заказ.

Описание: As the title implies, the focus of the book has changed from electron microdiffraction and convergent beam electron diffraction to all forms of advanced transmission electron microscopy.

Biological Specimen Preparation for Transmission Electron Microscopy

Автор: Glauert Audrey M., Lewis Peter R.
Название: Biological Specimen Preparation for Transmission Electron Microscopy
ISBN: 0691630127 ISBN-13(EAN): 9780691630120
Издательство: Wiley
Рейтинг:
Цена: 25916.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Scanning transmission electron microscopy

Название: Scanning transmission electron microscopy
ISBN: 0367197367 ISBN-13(EAN): 9780367197360
Издательство: Taylor&Francis
Рейтинг:
Цена: 17609.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book focuses on explaining and applying the principles of machine learning-based techniques and advanced image processing methods currently used in the electron microscopy community suitable for handling large electron microscopy data sets and extracting structure-property information for various materials.

Advanced Transmission Electron Microscopy

Автор: Francis Leonard Deepak; Alvaro Mayoral; Raul Arena
Название: Advanced Transmission Electron Microscopy
ISBN: 3319151762 ISBN-13(EAN): 9783319151762
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 18284.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book highlights the current understanding of materials in the context of new and continuously emerging techniques in the field of electron microscopy. The authors present applications of electron microscopic techniques in characterizing various well-known & new nanomaterials.

Analytical Transmission Electron Microscopy

Автор: J?rgen Thomas; Thomas Gemming
Название: Analytical Transmission Electron Microscopy
ISBN: 9401786003 ISBN-13(EAN): 9789401786003
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 10480.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Based on the authors` years of experience as instructors, this book is an introduction for all persons who want to use a transmission electron microscope. Offers illustrative examples, simple models and practical hints on analytical transmission microscopy.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия