Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Interconnections: Bridges, Routers, Switches, and Internetworking, Radia Perlman


Варианты приобретения
Цена: 17585.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-08-26
Ориентировочная дата поставки: Октябрь
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Radia Perlman
Название:  Interconnections: Bridges, Routers, Switches, and Internetworking
Перевод названия: Взаимосвязи: мосты, маршрутизаторы, коммутаторы и межсетевые соединения
ISBN: 9780201634488
Издательство: Pearson Education
Издательство: Addison-Wesley Professional
Классификация:
ISBN-10: 0201634481
Обложка/Формат: Hardback
Страницы: 560
Вес: 1.13 кг.
Дата издания: 04.10.1999
Серия: Protocols 2nd Edition - Cased
Язык: English
Издание: 2 rev ed
Иллюстрации: Illustrations
Размер: 244 x 197 x 32
Читательская аудитория: Tertiary education (us: college)
Подзаголовок: Bridges and routers
Рейтинг:
Поставляется из: США
Описание: Provides information on networking theory and practice, general networking concepts, routing algorithms and protocols, addressing, and the mechanics of bridges, routers, switches, and hubs. This book covers the developments in the field, including advances in switching and bridge technology, VLANs, Fast Ethernet, DHCP, ATM, and IPv6.


      Старое издание

Electromigration In Ulsi Interconnections

Автор: Tan Cher Ming
Название: Electromigration In Ulsi Interconnections
ISBN: 9814273325 ISBN-13(EAN): 9789814273329
Издательство: World Scientific Publishing
Рейтинг:
Цена: 15840.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Presents a description of the electro migration in integrated circuits. This book examines the various interconnected systems and their evolution employed in integrated circuit technology. It is suitable for readers on electro migration in ULSI interconnections.

Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections

Автор: Cher Ming Tan; Wei Li; Zhenghao Gan; Yuejin Hou
Название: Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
ISBN: 1447126416 ISBN-13(EAN): 9781447126416
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15672.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book offers a thorough understanding of the applications of finite element method (FEM) to reliability modeling and an appreciation of the strengths and weaknesses of various numerical models for interconnect reliability.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия