Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections, Cher Ming Tan; Wei Li; Zhenghao Gan; Yuejin Hou


Варианты приобретения
Цена: 15672.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Cher Ming Tan; Wei Li; Zhenghao Gan; Yuejin Hou
Название:  Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
ISBN: 9781447126416
Издательство: Springer
Классификация:







ISBN-10: 1447126416
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 160
Вес: 0.25 кг.
Дата издания: 2011
Серия: Springer Series in Reliability Engineering
Язык: English
Иллюстрации: 19 black & white tables, biography
Размер: 229 x 152 x 10
Читательская аудитория: Professional & vocational
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: This book offers a thorough understanding of the applications of finite element method (FEM) to reliability modeling and an appreciation of the strengths and weaknesses of various numerical models for interconnect reliability.


Interconnection and the Internet

Автор: Rosston
Название: Interconnection and the Internet
ISBN: 0805828486 ISBN-13(EAN): 9780805828481
Издательство: Taylor&Francis
Рейтинг:
Цена: 7654.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: 3rd volume of proceedings from TPRC

Electromigration In Ulsi Interconnections

Автор: Tan Cher Ming
Название: Electromigration In Ulsi Interconnections
ISBN: 9814273325 ISBN-13(EAN): 9789814273329
Издательство: World Scientific Publishing
Рейтинг:
Цена: 15840.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Presents a description of the electro migration in integrated circuits. This book examines the various interconnected systems and their evolution employed in integrated circuit technology. It is suitable for readers on electro migration in ULSI interconnections.

Environmental Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems

Автор: Ibe
Название: Environmental Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems
ISBN: 1118479297 ISBN-13(EAN): 9781118479292
Издательство: Wiley
Рейтинг:
Цена: 19158.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book provides the reader with knowledge on a wide variety of radiation fields and their effects on the electronic devices and systems. The author covers faults and failures in ULSI devices induced by a wide variety of radiation fields, including electrons, alpha-rays, muons, gamma rays, neutrons and heavy ions.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия