Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Principles and Practice of Variable Pressure: Environmental Scanning Electron Microscopy (VP-ESEM), Stokes


Варианты приобретения
Цена: 10763.00р.
Кол-во:
 о цене
Наличие: Отсутствует. Возможна поставка под заказ.

При оформлении заказа до: 2025-09-01
Ориентировочная дата поставки: конец Сентября - начало Октября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Stokes
Название:  Principles and Practice of Variable Pressure: Environmental Scanning Electron Microscopy (VP-ESEM)
ISBN: 9780470065402
Издательство: Wiley
Классификация:
ISBN-10: 0470065400
Обложка/Формат: Hardback
Страницы: 234
Вес: 0.47 кг.
Дата издания: 14.11.2008
Серия: Royal microscopical society
Язык: English
Иллюстрации: Illustrations
Размер: 229 x 157 x 16
Читательская аудитория: Professional & vocational
Подзаголовок: Environmental scanning electron microscopy (vp-esem)
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Англии
Описание: * Offers a simple starting point to VPSEM, especially for new users, technicians and students containing clear, concise explanations * Crucially, the principles and applications outlined in this book are completely generic: i.e. applicable to all types of VPSEM, irrespective of manufacturer.


Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Автор: Patrick Echlin
Название: Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
ISBN: 0387857303 ISBN-13(EAN): 9780387857305
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 14673.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The analytical system depends on collecting the x-ray photons that are generated within the sample as a consequence of interaction with the same high energy beam of primary electrons used to produce images.

New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy

Автор: Kenichi Shimizu; Tomoaki Mitani
Название: New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy
ISBN: 3642031595 ISBN-13(EAN): 9783642031595
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 19591.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: In modern scanning electron microscopy, sample surface preparation is of key importance. This book presents the procedures for sample surface preparation, thereby facilitating unprecedented capabilities with advanced scanning electron microscopes.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия