Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Fundamentals of III-V Semiconductor MOSFETs, Serge Oktyabrsky; Peide Ye


Варианты приобретения
Цена: 26122.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Serge Oktyabrsky; Peide Ye
Название:  Fundamentals of III-V Semiconductor MOSFETs
ISBN: 9781441915467
Издательство: Springer
Классификация:

ISBN-10: 144191546X
Обложка/Формат: Hardcover
Страницы: 445
Вес: 0.82 кг.
Дата издания: 22.03.2010
Язык: English
Издание: 2010 ed.
Иллюстрации: 100 black & white illustrations, 30 black & white tables
Размер: 234 x 156 x 25
Читательская аудитория: Professional & vocational
Основная тема: Circuits and Systems
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: Fundamentals of III-V Semiconductor MOSFETs presents the fundamentals and current status of research of compound semiconductor metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (MOSFETs) that are envisioned as a future replacement of silicon in digital circuits.


Fundamentals of Semiconductor Lasers

Автор: Takahiro Numai
Название: Fundamentals of Semiconductor Lasers
ISBN: 4431551476 ISBN-13(EAN): 9784431551478
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 18284.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

The Drift Diffusion Equation and Its Applications in MOSFET Modeling

Автор: Wilfried H?nsch
Название: The Drift Diffusion Equation and Its Applications in MOSFET Modeling
ISBN: 3709190975 ISBN-13(EAN): 9783709190975
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 14365.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: To be perfect does not mean that there is nothing to add, but rather there is nothing to take away Antoine de Saint-Exupery The drift-diffusion approximation has served for more than two decades as the cornerstone for the numerical simulation of semiconductor devices.

Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications

Автор: Jacopo Franco; Ben Kaczer; Guido Groeseneken
Название: Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
ISBN: 9400776624 ISBN-13(EAN): 9789400776623
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 16769.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book explores the reliability of novel (Si)Ge channel quantum well pMOSFET technology. It proposes a physical model to understand the intrinsically superior reliability of the MOS system consisting of a Ge-based channel and a SiO2/HfO2 dielectric stack.

Analysis and Design of MOSFETs

Автор: Juin Jei Liou; Adelmo Ortiz-Conde; Francisco Garci
Название: Analysis and Design of MOSFETs
ISBN: 1461374731 ISBN-13(EAN): 9781461374732
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 22203.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Analysis and Design of MOSFETs: Modeling, Simulation, and Parameter Extraction is the first book devoted entirely to a broad spectrum of analysis and design issues related to the semiconductor device called metal-oxide semiconductor field-effect transistor (MOSFET).

MOSFET Technologies for Double-Pole Four-Throw Radio-Frequency Switch

Автор: Viranjay M. Srivastava; Ghanshyam Singh
Название: MOSFET Technologies for Double-Pole Four-Throw Radio-Frequency Switch
ISBN: 3319011642 ISBN-13(EAN): 9783319011646
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 16769.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book provides analysis and discusses the design of various MOSFET technologies. Coverage includes comparison of Single-gate MOSFET and Double-gate MOSFET switching parameters as well as testing of MOSFETs parameters using image acquisition.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия