XUV Pump-Probe Experiments on Diatomic Molecules, Kirsten Schnorr

Автор: Bharat Bhushan; Harald Fuchs
Название: Applied Scanning Probe Methods IV
ISBN: 364206597X ISBN-13(EAN): 9783642065972
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 23757.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Scanning Probe Lithography for Chemical, Biological and Engineering Applications.- Nanotribological Characterization of Human Hair and Skin Using Atomic Force Microscopy (AFM).- Nanofabrication with Self-Assembled Monolayers by Scanning Probe Lithography.- Fabrication of Nanometer-Scale Structures by Local Oxidation Nanolithography.- Template Effects of Molecular Assemblies Studied by Scanning Tunneling Microscopy (STM).- Microfabricated Cantilever Array Sensors for (Bio-)Chemical Detection.- Nano-Thermomechanics: Fundamentals and Application in Data Storage Devices.- Applications of Heated Atomic Force Microscope Cantilevers.

Автор: Russell E. Walstedt
Название: The NMR Probe of High-Tc Materials and Intermetallic Compounds
ISBN: 3662555808 ISBN-13(EAN): 9783662555804
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 20962.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This new edition updates readers in three areas of NMR studies, namely, recent developments in high-Tc materials, heavy fermion systems and actinide oxides are presented.

Автор: Kirsten Schnorr
Название: XUV Pump-Probe Experiments on Diatomic Molecules
ISBN: 3319121383 ISBN-13(EAN): 9783319121383
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 16769.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book explores the relaxation dynamics of inner-valence-ionized diatomic molecules on the basis of extreme-ultraviolet pump-probe experiments performed at the free-electron laser (FEL) in Hamburg.

Автор: T. Sakurai; Y. Watanabe
Название: Advances in Scanning Probe Microscopy
ISBN: 3642630847 ISBN-13(EAN): 9783642630842
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 13974.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: There have been many books published on scanning tunneling microscopy (STM), atomic force microscopy (AFM) and related subjects since Dr. Cerd Binnig and Dr. Heinrich Rohrer invented STM in 1982 and AFM in 1986 at IBM Research Center in Zurich, Switzerland.

Автор: Baptiste Gault; Michael P. Moody; Julie M. Cairney
Название: Atom Probe Microscopy
ISBN: 1489989390 ISBN-13(EAN): 9781489989390
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 20962.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book covers all facets of atom probe microscopy-including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography. Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels.

Автор: Adam Foster; Werner A. Hofer
Название: Scanning Probe Microscopy
ISBN: 1441923063 ISBN-13(EAN): 9781441923066
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 19589.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.

Автор: Bharat Bhushan
Название: Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2
ISBN: 3662506017 ISBN-13(EAN): 9783662506011
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 28732.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The chapters in this volume relate to scanning probe microscopy techniques, characterization of various materials and structures and typical industrial applications, including topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials.