Optical Beam Characterization via Phase-Space Tomography, Alejandro C?mara

Автор: Rui Bernardes; Jos? Cunha-Vaz
Название: Optical Coherence Tomography
ISBN: 3662521180 ISBN-13(EAN): 9783662521182
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15672.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book covers application of OCT from the anterior to the posterior ocular segments, and details clinical applications ranging from adaptive optics to the integration of a slit-lamp, and new structural and functional information extraction from OCT data.

Автор: Devaney
Название: Mathematical Foundations of Imaging, Tomography and Wavefield Inversion
ISBN: 052111974X ISBN-13(EAN): 9780521119740
Издательство: Cambridge Academ
Рейтинг:
Цена: 8395.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Combining theory with numerous MATLAB based examples, this text provides a clear and systematic treatment of the mathematical and physical foundations of imaging and wavefield inversion. Key areas of discussion include Green function and the concept of field time reversal. It will appeal to graduate students and researchers alike.

Автор: Alejandro C?mara
Название: Optical Beam Characterization via Phase-Space Tomography
ISBN: 331919979X ISBN-13(EAN): 9783319199795
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15672.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The book describes several non-interferometric methods based on phase-space tomography for recovering the spatial coherence information of optical beams.In the context of optical beams, partially coherent light provides numerous advantages over coherent light.

Автор: Michael K. Miller; Richard G. Forbes
Название: Atom-Probe Tomography
ISBN: 1489974296 ISBN-13(EAN): 9781489974297
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 20896.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: In this comprehensive introduction to the use of APT in nanocharacterization, readers will find everything they need to get up to speed on the technique, from the core physics to state-of-the-art instrumentation and revised methods of data analysis.

Автор: David J. Larson; Ty J. Prosa; Robert M. Ulfig; Bri
Название: Local Electrode Atom Probe Tomography
ISBN: 146148720X ISBN-13(EAN): 9781461487203
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 20962.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The first single-source reference to all the major features of LEAP tomography, this volume includes a wealth of practical tips and covers all four core aspects of a LEAP tomography experiment from start to finish, as well as the software methods employed.

Автор: Terry C. Telger; Klaus Roth
Название: NMR-Tomography and -Spectroscopy in Medicine
ISBN: 3540134425 ISBN-13(EAN): 9783540134428
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 13974.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Even the earliest applications of nuclear magnetic resonance (NMR) spectroscopy and tomography to medical inquiries, using experimental apparatus that was primitive by today`s standards, demonstrated the extraordinary potential of the NMR method.

Автор: D. Dragoman; M. Dragoman
Название: Optical Characterization of Solids
ISBN: 3642075215 ISBN-13(EAN): 9783642075216
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 30606.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Gives a comprehensive and coherent account of the basic methods to characterize a solid through its interaction with an electromagnetic field.

Автор: G?nther Bauer; Wolfgang Richter
Название: Optical Characterization of Epitaxial Semiconductor Layers
ISBN: 364279680X ISBN-13(EAN): 9783642796807
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 14365.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The characterization of epitaxial layers and their surfaces has benefitted a lot from the enormous progress of optical analysis techniques during the last decade.