Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Fracture Scaling, Zdenek P. Bazant; Y. Rajapakse


Варианты приобретения
Цена: 30606.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Zdenek P. Bazant; Y. Rajapakse
Название:  Fracture Scaling
ISBN: 9780792358251
Издательство: Springer
Классификация:

ISBN-10: 0792358252
Обложка/Формат: Hardback
Страницы: 435
Вес: 1.23 кг.
Дата издания: 31.05.1999
Основная тема: Engineering
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: A collection of the papers given at the workshop on Fracture Scaling, held at the University of Maryland, USA, 10-12 June 1999, under the sponsorship of the Office of Naval Research, Arlington, VA, USA. It is of interest to researchers and advanced graduate students in materials science, solid mechanics and civil engineering.


Transistor Scaling

Автор: Thompson
Название: Transistor Scaling
ISBN: 1558998691 ISBN-13(EAN): 9781558998698
Издательство: Cambridge Academ
Рейтинг:
Цена: 5069.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. This book shares results and physical models related to MOSFETs and to discuss innovative approaches necessary to continue the transistor scaling. Expanded versions of presentations in the areas of technology development are featured

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications

Автор: Demkov
Название: CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications
ISBN: 1605111287 ISBN-13(EAN): 9781605111285
Издательство: Cambridge Academ
Рейтинг:
Цена: 14890.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling

Автор: Ramanathan
Название: Materials and Devices for End-of-Roadmap and Beyond CMOS Scaling
ISBN: 1605112291 ISBN-13(EAN): 9781605112299
Издательство: Cambridge Academ
Рейтинг:
Цена: 14890.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This proceedings volume contains papers presented at Symposium I, `Materials for End-of-Roadmap Scaling of CMOS Devices`, and Symposium J, `Materials and Devices for Beyond CMOS Scaling`, held April 5-9 at the 2010 MRS Spring Meeting in San Francisco, California. These symposia attracted 106 presentations, of which twenty-two were invited.

Statistics and Scaling in Turbulent Rayleigh-B?nard Convection

Автор: Emily S.C. Ching
Название: Statistics and Scaling in Turbulent Rayleigh-B?nard Convection
ISBN: 9814560227 ISBN-13(EAN): 9789814560221
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 9141.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The phenomenology of the different types of scaling behavior: the Bolgiano-Obhukov scaling behavior when buoyancy effects are significant and the Kolmogorov-Obukhov-Corrsin scaling behavior when they are not, is introduced.

Methods of Fracture Mechanics: Solid Matter Physics

Автор: G.P. Cherepanov
Название: Methods of Fracture Mechanics: Solid Matter Physics
ISBN: 0792344081 ISBN-13(EAN): 9780792344087
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 23508.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Modern fracture mechanics considers phenomena at many levels, macro and micro; As a supplementary text, the book can be used in graduate level courses on fracture mechanics, solid matter physics, and mechanics of solids, or in a special course on the application of fracture mechanics methods in solid matter physics.

Constitutive Laws of Plastic Deformation and Fracture

Автор: A.S. Krausz
Название: Constitutive Laws of Plastic Deformation and Fracture
ISBN: 0792306392 ISBN-13(EAN): 9780792306399
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 41647.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: 19th Canadian Fracture Conference, Ottawa, Ontario, May 29-31, 1989

Spall Fracture

Автор: Tarabay Antoun; Lynn Seaman; Donald R Curran; Genn
Название: Spall Fracture
ISBN: 0387955003 ISBN-13(EAN): 9780387955001
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 26122.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Shock-induced dynamic fracture of solids is of practical importance in many areas of materials science, chemical physics, engineering, and geophysics. This book provides a systematic account of the contemporary state of research in the field, integrating the large amount of work done in the former Soviet Union with the work done in the West.

Fracture Mechanics

Автор: Alan T. Zehnder
Название: Fracture Mechanics
ISBN: 940178289X ISBN-13(EAN): 9789401782890
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 16977.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Fracture Mechanics presents the fundamentals of fracture research and engineering practice. Class-tested at Cornell, this book is designed for students, researchers and practitioners interested in understanding, and contributing, to a diverse and vital field of knowledge.

IUTAM Symposium on Reynolds Number Scaling in Turbulent Flow

Автор: Alexander J. Smits
Название: IUTAM Symposium on Reynolds Number Scaling in Turbulent Flow
ISBN: 9401037639 ISBN-13(EAN): 9789401037631
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 25853.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Proceedings of the IUTAM Symposium held in Princeton, NJ, USA, September 11-13, 2002


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия