On Optimal Interconnections for VLSI, Andrew B. Kahng; Gabriel Robins

Автор: Guy Lemieux; David Lewis
Название: Design of Interconnection Networks for Programmable Logic
ISBN: 1441954155 ISBN-13(EAN): 9781441954152
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15672.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Programmable Logic Devices (PLDs) have become the key implementation medium for the vast majority of digital circuits designed today. This book focuses on that 90% that is the programmable routing: the manner in which the programmable wires are connected and the circuit design of the programmable switches themselves.

Автор: Andrew B. Kahng; Gabriel Robins
Название: On Optimal Interconnections for VLSI
ISBN: 1441951458 ISBN-13(EAN): 9781441951458
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 30606.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Recent minimum-delay constructions are highlighted, including provably good cost-radius tradeoffs, critical-sink routing algorithms, Elmore delay-optimal routing, graph Steiner arborescences, non-tree routing, and wiresizing.

Автор: William Greig
Название: Integrated Circuit Packaging, Assembly and Interconnections
ISBN: 1441939237 ISBN-13(EAN): 9781441939234
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15672.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Reviewing the various IC packaging, assembly, and interconnection technologies, this professional reference provides an overview of the materials and the processes, as well as the trends and available options that encompass electronic manufacturing.

Автор: Cher Ming Tan; Wei Li; Zhenghao Gan; Yuejin Hou
Название: Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
ISBN: 1447126416 ISBN-13(EAN): 9781447126416
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15672.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book offers a thorough understanding of the applications of finite element method (FEM) to reliability modeling and an appreciation of the strengths and weaknesses of various numerical models for interconnect reliability.

Автор: G.G. Harman; Pavel Mach
Название: Microelectronic Interconnections and Assembly
ISBN: 9401061599 ISBN-13(EAN): 9789401061599
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 12157.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop, Prague, Czech Republic, 18-21 May 1996

Автор: Tan Cher Ming
Название: Electromigration In Ulsi Interconnections
ISBN: 9814273325 ISBN-13(EAN): 9789814273329
Издательство: World Scientific Publishing
Рейтинг:
Цена: 15840.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Presents a description of the electro migration in integrated circuits. This book examines the various interconnected systems and their evolution employed in integrated circuit technology. It is suitable for readers on electro migration in ULSI interconnections.

Автор: Raif O. Onvural; Arne Nilsson
Название: Local Area Network Interconnection
ISBN: 1461362822 ISBN-13(EAN): 9781461362821
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 6986.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Proceedings of the First International Conference held in Research Triangle Park, North Carolina, October 20-22, 1993