Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Yield Simulation for Integrated Circuits, D.M. Walker


Варианты приобретения
Цена: 23751.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: D.M. Walker
Название:  Yield Simulation for Integrated Circuits
ISBN: 9780898382440
Издательство: Springer
Классификация:

ISBN-10: 0898382440
Обложка/Формат: Hardcover
Страницы: 209
Вес: 0.51 кг.
Дата издания: 30.09.1987
Серия: The Springer International Series in Engineering and Computer Science
Язык: English
Размер: 246 x 164 x 19
Основная тема: Computer Science
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: Since only half the chip area would have redundancy, I was concerned that the increase in yield would not outweigh the increased costs of testing and redundancy programming. I wanted a simulator that would allow me to evaluate the yield of arbitrary redundant layouts, hence I termed such a simulator a layout or yield simulator.


VLSI Design for Manufacturing: Yield Enhancement

Автор: Stephen W. Director; Wojciech Maly; Andrzej J. Str
Название: VLSI Design for Manufacturing: Yield Enhancement
ISBN: 1461288169 ISBN-13(EAN): 9781461288169
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 11753.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: There are two ways to increase yield: by improving the control of the manufacturing process and by designing the process and the circuits in such a way as to minimize the effect of the inherent variations of the process on performance.

Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits

Автор: Jian Cheng Zhang; M.A. Styblinski
Название: Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
ISBN: 146135935X ISBN-13(EAN): 9781461359357
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 13974.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications.

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss

Автор: Jitendra B. Khare; Wojciech Maly
Название: From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
ISBN: 146128595X ISBN-13(EAN): 9781461285953
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 16979.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Given such a high level of investment, it is critical for IC manufacturers to reduce manufacturing costs and get a better return on their investment. The most obvious method of reducing the manufacturing cost per die is to improve manufacturing yield.

Simulation Techniques and Solutions for Mixed-Signal Coupling in Integrated Circuits

Автор: Nishath K. Verghese; Timothy J. Schmerbeck; David
Название: Simulation Techniques and Solutions for Mixed-Signal Coupling in Integrated Circuits
ISBN: 1461359422 ISBN-13(EAN): 9781461359425
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 19591.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits

Автор: Sonia Ben Dhia; Mohamed Ramdani; Etienne Sicard
Название: Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits
ISBN: 1461498317 ISBN-13(EAN): 9781461498315
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 19589.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits: Techniques for Low Emission and Susceptibility focuses on the electromagnetic compatibility of integrated circuits. The basic concepts, theory, and an extensive historical review of integrated circuit emission and susceptibility are provided.

On-Chip Inductance in High Speed Integrated Circuits

Автор: Yehea I. Ismail; Eby G. Friedman
Название: On-Chip Inductance in High Speed Integrated Circuits
ISBN: 1461356776 ISBN-13(EAN): 9781461356776
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 13974.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: On-Chip Inductance in High Speed Integrated Circuits will be of interest to researchers in the area of high frequency interconnect, noise, and high performance integrated circuit design.

Polycrystalline Silicon for Integrated Circuits and Displays

Автор: Ted Kamins
Название: Polycrystalline Silicon for Integrated Circuits and Displays
ISBN: 1461375517 ISBN-13(EAN): 9781461375517
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 26122.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Polycrystalline Silicon for Integrated Circuits and Displays, Second Edition presents much of the available knowledge about polysilicon.

Power Distribution Networks in High Speed Integrated Circuits

Автор: Andrey Mezhiba; Eby G. Friedman
Название: Power Distribution Networks in High Speed Integrated Circuits
ISBN: 1402075340 ISBN-13(EAN): 9781402075346
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 22359.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Deals with distributing power in high speed, high complexity integrated circuits. This monograph aims to provide insight and intuition into the behavior and design of power distribution systems for high speed, high complexity integrated circuits.

Reuse-Based Methodologies and Tools in the Design of Analog and Mixed-Signal Integrated Circuits

Автор: Rafael Castro L?pez; Francisco V. Fern?ndez; ?scar
Название: Reuse-Based Methodologies and Tools in the Design of Analog and Mixed-Signal Integrated Circuits
ISBN: 9048172896 ISBN-13(EAN): 9789048172894
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 29209.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book presents a framework for the reuse-based design of AMS circuits. The framework is founded on three key elements: (1) a CAD-supported hierarchical design flow; The book features a detailed tutorial and in-depth coverage of all issues and must-have properties of reusable AMS blocks.

Large Scale Integrated Circuits Technology: State of the Art and Prospects

Автор: Leo Esaki; G. Soncini
Название: Large Scale Integrated Circuits Technology: State of the Art and Prospects
ISBN: 940097647X ISBN-13(EAN): 9789400976474
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 12157.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, July 15-27, 1981

On-Chip ESD Protection for Integrated Circuits

Автор: Albert Z.H. Wang
Название: On-Chip ESD Protection for Integrated Circuits
ISBN: 1475775741 ISBN-13(EAN): 9781475775747
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 20896.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Microscale Heat Conduction in Integrated Circuits and Their Constituent Films

Автор: Y. Sungtaek Ju; Kenneth E. Goodson
Название: Microscale Heat Conduction in Integrated Circuits and Their Constituent Films
ISBN: 1461373743 ISBN-13(EAN): 9781461373742
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 13974.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия