From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss, Jitendra B. Khare; Wojciech Maly

Автор: Christian Flytkj?r Jensen
Название: Online Location of Faults on AC Cables in Underground Transmission Systems
ISBN: 3319053973 ISBN-13(EAN): 9783319053974
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 22359.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book reports on various techniques for fault location on cross bonded cables, identifies the best method and describes the construction of a full fault locator system.

Автор: Edmund G. Seebauer; Meredith C. Kratzer
Название: Charged Semiconductor Defects
ISBN: 1849968209 ISBN-13(EAN): 9781849968201
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 26120.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: "Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.

Автор: Hans-Joachim Queisser; Johann-Martin Spaeth; Haral
Название: Point Defects in Semiconductors and Insulators
ISBN: 3642627226 ISBN-13(EAN): 9783642627224
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 25155.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The precedent book with the title "Structural Analysis of Point Defects in Solids: An introduction to multiple magnetic resonance spectroscopy" ap- peared about 10 years ago.

Автор: Lucia Romano
Название: Defects in Semiconductors,91
ISBN: 0128019352 ISBN-13(EAN): 9780128019351
Издательство: Elsevier Science
Рейтинг:
Цена: 28633.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание:

This volume, number 91 in the Semiconductor and Semimetals series, focuses on defects in semiconductors. Defects in semiconductors help to explain several phenomena, from diffusion to getter, and to draw theories on materials' behavior in response to electrical or mechanical fields.

Автор: Edmund G. Seebauer; Meredith C. Kratzer
Название: Charged Semiconductor Defects
ISBN: 1848820585 ISBN-13(EAN): 9781848820586
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 26122.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Defects in semiconductors have been studied for many years, in many cases with a view toward controlling their behaviour through various forms of `defect engineering`. This book covers the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.

Автор: Kipp van Schooten
Название: Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance
ISBN: 3319005898 ISBN-13(EAN): 9783319005898
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 18167.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book lays the groundwork for further use of Electron Spin Echo Envelop Modulation (ESEEM) and opens the possibility of highly precise chemical fingerprinting. It reveals an astonishingly long memory of spin coherence in semiconductor particles.