Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

High-Resolution Electron Microscopy for Materials Science, Daisuke Shindo; Hiraga Kenji


Варианты приобретения
Цена: 13060.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Daisuke Shindo; Hiraga Kenji
Название:  High-Resolution Electron Microscopy for Materials Science
ISBN: 9784431702344
Издательство: Springer
Классификация:

ISBN-10: 4431702342
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 190
Вес: 0.48 кг.
Дата издания: 01.09.1998
Язык: English
Размер: 210 x 279 x 16
Основная тема: Materials Science
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: Essential information on appropriate imaging conditions for observing lattice images and structure images is presented, and methods for extracting structural information from these observations are clearly shown, including examples in advanced materials.


Electron Microscopy of Polymers

Автор: Michler G.H.
Название: Electron Microscopy of Polymers
ISBN: 3540363505 ISBN-13(EAN): 9783540363507
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 19591.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: There are many books on electron microscopy, however, the study of polymers by EM needs special techniques, precautions and preparation methods, including ultramicrotomy. General characteristics of the different techniques of EM, including scanning force microscopy (AFM), are given. Application of these techniques to study morphology and also properties, particularly micromechanical properties, is described in detail. Examples from all classes of polymers are presented.

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Автор: Brent Fultz; James Howe
Название: Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
ISBN: 3642433154 ISBN-13(EAN): 9783642433153
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 13059.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book explains aspects of transmission electron microscopy and x-ray diffractometry that are important for characterization of materials. The 4th edition adds new techniques such as electron tomography, nanobeam diffraction and geometric phase analysis.

Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy on Materials Research

Автор: David G. Rickerby; Giovanni Valdr?; Ugo Valdr?
Название: Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy on Materials Research
ISBN: 0792359402 ISBN-13(EAN): 9780792359401
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 18167.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Covers diffraction contrast and defect analysis by conventional TEM lattice imaging, phase contrast and resolution limits in high resolution electron microscopy. This book covers specialized electron diffraction techniques, and the application of parallel electron energy loss spectroscopy and scanning transmission EM for subnanometer analysis.

4D Electron Microscopy

Автор: Zewail, A.H.
Название: 4D Electron Microscopy
ISBN: 1848164009 ISBN-13(EAN): 9781848164000
Издательство: World Scientific Publishing
Рейтинг:
Цена: 6336.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Compares the merits of coherent electron waves with those of synchrotron radiation. This book exposes the paradigm concepts and the developed techniques that can be executed to gain knowledge in the entire domain of biological and physical science, and in the four dimensions of space and time.

High-resolution extreme ultraviolet microscopy

Автор: Zurch, Michael Werner
Название: High-resolution extreme ultraviolet microscopy
ISBN: 3319123874 ISBN-13(EAN): 9783319123875
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15372.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Finally, this book presents a newly developed technique of generating structured illumination by means of so-called optical vortex beams in the extreme ultraviolet regime and proposes its general usability for super-resolution imaging.

High-Resolution Extreme Ultraviolet Microscopy

Автор: Michael Werner Z?rch
Название: High-Resolution Extreme Ultraviolet Microscopy
ISBN: 3319385658 ISBN-13(EAN): 9783319385655
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 13059.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Finally, this book presents a newly developed technique of generating structured illumination by means of so-called optical vortex beams in the extreme ultraviolet regime and proposes its general usability for super-resolution imaging.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия