Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Electron Microscopy of Polymers, Michler G.H.



Варианты приобретения
Цена: 19591р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 12 дек 2024
Ориентировочная дата поставки: Февраль
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Michler G.H.
Название:  Electron Microscopy of Polymers
Перевод названия: Дж.Х. Михлер: Электронная микроскопия полимеров
ISBN: 9783540363507
Издательство: Springer
Классификация:
ISBN-10: 3540363505
Обложка/Формат: Hardback
Страницы: 493
Вес: 0.535 кг.
Дата издания: 23.07.2008
Серия: Springer laboratory
Язык: English
Иллюстрации: 12 tables, black and white; xx, 473 p.
Размер: 23.88 x 16.26 x 2.79
Читательская аудитория: Professional & vocational
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: There are many books on electron microscopy, however, the study of polymers by EM needs special techniques, precautions and preparation methods, including ultramicrotomy. General characteristics of the different techniques of EM, including scanning force microscopy (AFM), are given. Application of these techniques to study morphology and also properties, particularly micromechanical properties, is described in detail. Examples from all classes of polymers are presented.
Дополнительное описание: Формат: 235x155
Круг читателей: For libraries, practitioners, scientists and lecturers in Polymer Science, Materials Science, Macromolecular Chemistry, and in the Chemical Industry
Ключевые слова: electron microscopy
polymer morphology
structure property correlations
scanning force microscopy
Язык: eng




Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Автор: Patrick Echlin
Название: Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
ISBN: 0387857303 ISBN-13(EAN): 9780387857305
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 14673 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The analytical system depends on collecting the x-ray photons that are generated within the sample as a consequence of interaction with the same high energy beam of primary electrons used to produce images.

Transmission Electron Microscopy

Автор: David B. Williams; C. Barry Carter
Название: Transmission Electron Microscopy
ISBN: 038776500X ISBN-13(EAN): 9780387765006
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 13969 р.
Наличие на складе: Невозможна поставка.

Описание: Illustrated in color, this work offers the necessary instructions for successful hands-on application of this versatile materials characterization technique. It also includes an extensive collection of questions for the student, providing approximately 800 self-assessment questions and over 400 questions that are suitable for homework assignment.

Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis

Автор: Goldstein
Название: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
ISBN: 0306472929 ISBN-13(EAN): 9780306472923
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 13974 р.
Наличие на складе: Невозможна поставка.

Описание: This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.

Physical Principles of Electron Microscopy

Автор: Egerton
Название: Physical Principles of Electron Microscopy
ISBN: 0387258000 ISBN-13(EAN): 9780387258003
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 18284 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Scanning and stationary-beam electron microscopes have become an indispensable tool for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology, and the biological and medical sciences. Physical Principles of Electron Microscopy provides an introduction to the theory and current practice of electron microscopy for undergraduate students who want to acquire an appreciation of how basic principles of physics are utilized in an important area of applied science, and for graduate students and technologists who make use of electron microscopes. At the same time, this book will be equally valuable for university teachers and researchers who need a concise supplemental text that deals with the basic principles of microscopy.

Principles and Practice of Variable Pressure: Environmental Scanning Electron Microscopy (VP-ESEM)

Автор: Stokes
Название: Principles and Practice of Variable Pressure: Environmental Scanning Electron Microscopy (VP-ESEM)
ISBN: 0470065400 ISBN-13(EAN): 9780470065402
Издательство: Wiley
Рейтинг:
Цена: 10763 р.
Наличие на складе: Нет в наличии.

Описание: * Offers a simple starting point to VPSEM, especially for new users, technicians and students containing clear, concise explanations * Crucially, the principles and applications outlined in this book are completely generic: i.e. applicable to all types of VPSEM, irrespective of manufacturer.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия