Digital Noise Monitoring of Defect Origin, Telman Aliev

Автор: Manoj Sachdev; Jose Pineda de Gyvez
Название: Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
ISBN: 1441942858 ISBN-13(EAN): 9781441942852
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 26120.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.

Автор: Jos? Pineda de Gyvez
Название: Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
ISBN: 1461363837 ISBN-13(EAN): 9781461363835
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 18167.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The expectation was that many small design companies would share the investment into the extremely costful Silicon fabrication plants while designing large lots of application-specific integrated circuits (ASIC`s).

Автор: D. Walgraef; N.M. Ghoniem
Название: Patterns, Defects and Materials Instabilities
ISBN: 9401067554 ISBN-13(EAN): 9789401067553
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 12157.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Cargese, France, September 4-15, 1989

Автор: Jitendra B. Khare; Wojciech Maly
Название: From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
ISBN: 146128595X ISBN-13(EAN): 9781461285953
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 16979.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Given such a high level of investment, it is critical for IC manufacturers to reduce manufacturing costs and get a better return on their investment. The most obvious method of reducing the manufacturing cost per die is to improve manufacturing yield.

Автор: C.H. Stapper; V.K. Jain; Gabriele Saucier
Название: Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
ISBN: 1475799594 ISBN-13(EAN): 9781475799590
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 20962.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Higher circuit densities, increasingly more complex application ohjectives, and advanced packaging technologies have suhstantially increased the need to incorporate defect-tolerance and fault-tolerance in the design of VLSI and WSI systems.

Автор: Thomas D Swinburne
Название: Stochastic Dynamics of Crystal Defects
ISBN: 3319200186 ISBN-13(EAN): 9783319200187
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15672.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Introduction.- Dislocations.- Stochastic Motion.- Atomistic simulations in bcc Metals.- Properties of Coarse Grained Dislocations.- The Stochastic Force on Crystal Defects.- Conclusions and Outlook.