Scanning Tunneling Microscopy and Related Methods, R.J. Behm; N. Garc?a; H. Rohrer

Автор: M.T. Bray; Samuel H. Cohen; Marcia L. Lightbody
Название: Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy
ISBN: 0306448904 ISBN-13(EAN): 9780306448904
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 26122.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: In the first session, Biological Nanostructure, topics ranged from AFM ofDNA to STM imagmg ofthe biomoleeule tubulin and bacterialluciferase to the AFM of starch polymer double helices to AFM imaging of food surfaces.

Название: Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3
ISBN: 0306462974 ISBN-13(EAN): 9780306462979
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 23508.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Contains the proceedings of the third Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy symposium, which was held to provide an interface between scientists, engineers, representatives of industry, government, and academia, all of whom have a common interest in probe microscopies.

Автор: Samuel H. Cohen; Marcia L. Lightbody
Название: Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
ISBN: 1475793278 ISBN-13(EAN): 9781475793277
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 19591.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994

Автор: R.J. Behm; N. Garc?a; H. Rohrer
Название: Scanning Tunneling Microscopy and Related Methods
ISBN: 0792308611 ISBN-13(EAN): 9780792308614
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 46399.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Автор: Roland Wiesendanger; Hans-Joachim G?ntherodt
Название: Scanning Tunneling Microscopy III
ISBN: 3540608249 ISBN-13(EAN): 9783540608240
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15672.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Providing an introduction to the theoretical foundations of STM and related scanning probe methods, this work outlines the various theoretical concepts developed in the past, and discusses the implications of the theoretical results for the interpretation of experimental data.

Автор: M.T. Bray; Samuel H. Cohen; Marcia L. Lightbody
Название: Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy
ISBN: 1475793243 ISBN-13(EAN): 9781475793246
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 26122.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: In the first session, Biological Nanostructure, topics ranged from AFM ofDNA to STM imagmg ofthe biomoleeule tubulin and bacterialluciferase to the AFM of starch polymer double helices to AFM imaging of food surfaces.

Автор: Roland Wiesendanger; W. Baumeister; Hans-Joachim G
Название: Scanning Tunneling Microscopy II
ISBN: 3540585893 ISBN-13(EAN): 9783540585893
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 9794.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Автор: Samuel H. Cohen; Marcia L. Lightbody
Название: Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3
ISBN: 1475781849 ISBN-13(EAN): 9781475781847
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 19591.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The Foundation for Advances in Medicine and Science (FAMS), the organizers of SCANNING 98, sponsored its third annual Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy Symposium at the Omni Inner Harbor Hotelin Baltimore, Maryland, from May 9 to 12, 1998.

Автор: Samuel H. Cohen; Marcia L. Lightbody
Название: Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
ISBN: 030645596X ISBN-13(EAN): 9780306455964
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 22201.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994

Автор: Hans-Joachim G?ntherodt; D. Anselmetti; Roland Wie
Название: Scanning Tunneling Microscopy I
ISBN: 3540584153 ISBN-13(EAN): 9783540584155
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 9141.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The conceptual simplicity of the STM technique is startling: bringing a sharp needle to within a few Angstroms of the surface of a conducting sample and using the tunneling cur- rent, which flows on application of a bias voltage, to sense the atomic and elec- tronic surface structure with atomic resolution!

Автор: Chunli Bai
Название: Scanning Tunneling Microscopy and Its Application
ISBN: 3642085008 ISBN-13(EAN): 9783642085000
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 26120.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Scanning Tunneling Microscopy and its Application presents a unified view of the rapidly growing field of STM, and its many derivatives. A thorough discussion of the various principles provides the background to tunneling phenomena and leads to the many novel scanning-probe techniques, such as AFM, MFM, BEEM, PSTM, etc. After having examined the available instrumentation and the methods for tip and surface preparations, the monograph provides detailed accounts of STM application to metal and semiconductor surfaces, adsorbates and surface chemistry, biology, and nanofabrication. It examines limitations of the present-day investigations and provides hints about possible further trends. This second edition includes important new developments in the field.

Автор: Hans-Joachim G?ntherodt; D. Anselmetti; Roland Wie
Название: Scanning Tunneling Microscopy I
ISBN: 3642973450 ISBN-13(EAN): 9783642973451
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 11173.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Scanning Tunneling Microscopy I provides a unique introduction to a novel and fascinating technique that produces beautiful images of nature on an atomic scale. It is the first of three volumes that together offer a comprehensive treatment of scanning tunneling microscopy, its diverse applications, and its theoretical treatment.