Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Physics and Technology of Submicron Structures, Helmut Heinrich; G?nther Neubauer; Friedemar Kucha


Варианты приобретения
Цена: 16769.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Helmut Heinrich; G?nther Neubauer; Friedemar Kucha
Название:  Physics and Technology of Submicron Structures
ISBN: 9783642834332
Издательство: Springer
Классификация:

ISBN-10: 3642834337
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 287
Вес: 0.42 кг.
Дата издания: 08.12.2011
Серия: Springer Series in Solid-State Sciences
Язык: English
Размер: 234 x 156 x 16
Основная тема: Materials Science
Подзаголовок: Proceedings of the Fifth International Winter School, Mauterndorf, Austria, February 22–26, 1988
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: The topics treated range from the fabrication of microstructures and the physical background of future semiconductor devices to vertical transport in nanostructures, universal conductance fluctuations, and the transition from two-dimensional to one-dimensional conduction in semiconductor structures.


Physics of Submicron Devices

Автор: David K. Ferry; Robert O. Grondin
Название: Physics of Submicron Devices
ISBN: 1461364442 ISBN-13(EAN): 9781461364443
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 15672.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: First, we must point out that it is not a device book, as a proper treatment of the range of important devices would require a much larger volume even without treating the important physics for submicron devices.

Stochastic Process Variation in Deep-Submicron CMOS

Автор: Amir Zjajo
Название: Stochastic Process Variation in Deep-Submicron CMOS
ISBN: 9400777809 ISBN-13(EAN): 9789400777804
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 16769.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book features a unique combination of mathematical treatment of random process variation, electrical noise and temperature, and circuit realizations for on-chip monitoring and performance calibration. Includes examples and easy to follow procedures.

Introduction to Thin Film Transistors: Physics and Technology of TFTs

Автор: S.D. Brotherton
Название: Introduction to Thin Film Transistors: Physics and Technology of TFTs
ISBN: 3319000012 ISBN-13(EAN): 9783319000015
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 10480.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book surveys the technology and applications of TFTs, covering hydrogenated amorphous silicon, poly-crystalline silicon, transparent amorphous oxide semiconductors, organic semiconductors and others that form the core of the flat panel display industry.

Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a Harsh Environment

Автор: Denis Flandre; Alexei N. Nazarov; Peter L.F. Hemme
Название: Science and Technology of Semiconductor-On-Insulator Structures and Devices Operating in a Harsh Environment
ISBN: 1402030118 ISBN-13(EAN): 9781402030116
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 33401.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Collects the papers presented during NATO Advanced Research Workshop `Science and technology of Semiconductor on Insulator (SOI) structures and devices operating in a harsh environment` held in Kiev 26-30 April 2004. This volume contains both reviews from invited speakers and selected papers presenting innovations in SOI materials and devices.

The Physics of Submicron Lithography

Автор: Kamil A. Valiev
Название: The Physics of Submicron Lithography
ISBN: 1461364612 ISBN-13(EAN): 9781461364610
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 27950.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: In this method the device is imaged as a pattern on a metal film that has been deposited onto a transparent substrate and by means of a broad stream of light is transferred to a semiconductor wafer within which the physical structure of the devices and the integrated circuit connections are formed layer by layer.

The Physics of Submicron Semiconductor Devices

Автор: Harold L. Grubin; David K. Ferry; C. Jacoboni
Название: The Physics of Submicron Semiconductor Devices
ISBN: 1489923845 ISBN-13(EAN): 9781489923844
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 27950.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: ... ...... . . . . . . . . . . ... . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 361 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 477 . . . . . .

Characterization Methods for Submicron MOSFETs

Автор: Hisham Haddara
Название: Characterization Methods for Submicron MOSFETs
ISBN: 1461285844 ISBN-13(EAN): 9781461285847
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 19589.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The need for more deep and extensive characterization of MOSFET param- eters has further increased as the applications of this device have gained ground in many new fields in which its performance has become more and more sensi- tive to the properties of its Si - Si0 interface.

Characterization Methods for Submicron MOSFETs

Автор: Hisham Haddara
Название: Characterization Methods for Submicron MOSFETs
ISBN: 0792396952 ISBN-13(EAN): 9780792396956
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 23508.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The need for more deep and extensive characterization of MOSFET param- eters has further increased as the applications of this device have gained ground in many new fields in which its performance has become more and more sensi- tive to the properties of its Si - Si0 interface.

Low Power Design in Deep Submicron Electronics

Автор: W. Nebel; Jean Mermet
Название: Low Power Design in Deep Submicron Electronics
ISBN: 0792381033 ISBN-13(EAN): 9780792381037
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 25853.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Presents the different aspects of low power design for deep submicron electronics at various levels of abstraction from system level to circuit level and technology. This book aims to guide industrial and academic engineers and researchers in the selection of methods, technologies and tools and to provide a baseline for further developments.

Frontiers in Nanoscale Science of Micron/Submicron Devices

Автор: A.-P. Jauho; Eugenia V. Buzaneva
Название: Frontiers in Nanoscale Science of Micron/Submicron Devices
ISBN: 0792343018 ISBN-13(EAN): 9780792343011
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 51290.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The topics covered in this book can be divided into the following main categories: basic science, device modelling, technology and materials science, characterization, and new structures. This book is useful to both the interested graduate student and the seasoned professional to gain an idea of the way nanoscience is developing.

Frontiers in Nanoscale Science of Micron/Submicron Devices

Автор: A.-P. Jauho; Eugenia V. Buzaneva
Название: Frontiers in Nanoscale Science of Micron/Submicron Devices
ISBN: 9401072949 ISBN-13(EAN): 9789401072946
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 51290.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Kiev, Ukraine, August 16-26, 1995

Stochastic Process Variation in Deep-Submicron CMOS

Автор: Amir Zjajo
Название: Stochastic Process Variation in Deep-Submicron CMOS
ISBN: 9402402853 ISBN-13(EAN): 9789402402858
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 13059.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book features a unique combination of mathematical treatment of random process variation, electrical noise and temperature, and circuit realizations for on-chip monitoring and performance calibration. Includes examples and easy to follow procedures.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия