Контакты/Проезд  Доставка и Оплата Помощь/Возврат
История
  +7(495) 980-12-10
  пн-пт: 10-18 сб,вс: 11-18
  shop@logobook.ru
   
    Поиск книг                    Поиск по списку ISBN Расширенный поиск    
Найти
  Зарубежные издательства Российские издательства  
Авторы | Каталог книг | Издательства | Новинки | Учебная литература | Акции | Хиты | |
 

Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques, Huhn Sebastian, Drechsler Rolf


Варианты приобретения
Цена: 15372.00р.
Кол-во:
Наличие: Поставка под заказ.  Есть в наличии на складе поставщика.
Склад Америка: Есть  
При оформлении заказа до: 2025-07-28
Ориентировочная дата поставки: Август-начало Сентября
При условии наличия книги у поставщика.

Добавить в корзину
в Мои желания

Автор: Huhn Sebastian, Drechsler Rolf
Название:  Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques
ISBN: 9783030692117
Издательство: Springer
Классификация:


ISBN-10: 3030692116
Обложка/Формат: Paperback
Страницы: 188
Вес: 0.27 кг.
Дата издания: 04.05.2022
Язык: English
Издание: 1st ed. 2021
Иллюстрации: 75 tables, color; 25 illustrations, color; 22 illustrations, black and white; xxi, 164 p. 47 illus., 25 illus. in color.; 75 tables, color; 25 illustr
Размер: 23.39 x 15.60 x 1.02 cm
Читательская аудитория: Professional & vocational
Подзаголовок: Next generation measures using formal techniques
Ссылка на Издательство: Link
Рейтинг:
Поставляется из: Германии
Описание: This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.


Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques

Автор: Huhn Sebastian, Drechsler Rolf
Название: Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques
ISBN: 3030692086 ISBN-13(EAN): 9783030692087
Издательство: Springer
Цена: 15372.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.

Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits

Автор: Jose Luis Huertas D?az
Название: Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits
ISBN: 1441954228 ISBN-13(EAN): 9781441954220
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 21661.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits deals with test and design for test of analog and mixed-signal integrated circuits. Besides these specification-driven testing techniques, fault-driven approaches are described as they offer potential solutions which are more similar to digital test methods.

Advanced VLSI Design and Testability Issues

Автор: Tripathi Suman Lata, Saxena Sobhit, Mohapatra Sushanta Kumar
Название: Advanced VLSI Design and Testability Issues
ISBN: 0367538369 ISBN-13(EAN): 9780367538361
Издательство: Taylor&Francis
Рейтинг:
Цена: 6583.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book provides in-depth knowledge of VLSI and also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The role of fault simulation algorithms is very well explained and its implementation using Verilog is the key aspect of this book.

Advanced VLSI Design and Testability Issues

Название: Advanced VLSI Design and Testability Issues
ISBN: 0367492822 ISBN-13(EAN): 9780367492823
Издательство: Taylor&Francis
Рейтинг:
Цена: 16078.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book provides in-depth knowledge of VLSI and also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The role of fault simulation algorithms is very well explained and its implementation using Verilog is the key aspect of this book.

Computer-Aided Design of Microfluidic Very Large Scale Integration (Mvlsi) Biochips: Design Automation, Testing, and Design-For-Testability

Автор: Hu Kai, Chakrabarty Krishnendu, Ho Tsung-Yi
Название: Computer-Aided Design of Microfluidic Very Large Scale Integration (Mvlsi) Biochips: Design Automation, Testing, and Design-For-Testability
ISBN: 331985867X ISBN-13(EAN): 9783319858678
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 13974.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The technical contributions presented in this book will not only shorten the product development cycle, but also accelerate the adoption and further development of modern flow-based microfluidic biochips, by facilitating the full exploitation of design complexities that are possible with current fabrication techniques.

Fundamentals of IP and Soc Security: Design, Verification, and Debug

Автор: Bhunia Swarup, Ray Sandip, Sur-Kolay Susmita
Название: Fundamentals of IP and Soc Security: Design, Verification, and Debug
ISBN: 3319843087 ISBN-13(EAN): 9783319843087
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 12577.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This book is about security in embedded systems and it provides an authoritative reference to all aspects of security in system-on-chip (SoC) designs.

Formal Equivalence Checking and Design Debugging

Автор: Shi-Yu Huang; Kwang-Ting (Tim) Cheng
Название: Formal Equivalence Checking and Design Debugging
ISBN: 1461376068 ISBN-13(EAN): 9781461376064
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 25155.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: Formal Equivalence Checking and Design Debugging covers two major topics in design verification: logic equivalence checking and design debugging.


ООО "Логосфера " Тел:+7(495) 980-12-10 www.logobook.ru
   В Контакте     В Контакте Мед  Мобильная версия