Cryo-Em Part A: Sample Preparation And Data Collection,481, Jensen, Grant

Автор: Cavalier, Annie
Название: Handbook of Cryo-Preparation Methods for Electron Microscopy
ISBN: 0849372275 ISBN-13(EAN): 9780849372278
Издательство: Taylor&Francis
Рейтинг:
Цена: 39811.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Автор: Jensen, Grant
Название: Cryo-Em Part B: 3-D Reconstruction,482
ISBN: 0123849918 ISBN-13(EAN): 9780123849915
Издательство: Elsevier Science
Рейтинг:
Цена: 24423.00 р.
Наличие на складе: Нет в наличии.

Описание: Deals with a description of the instruments, samples, protocols, and analyses that belong to cryo-EM. This title emphasizes the relatedness of the ideas, instrumentation, and methods underlying all cryo-EM approaches which allow practictioners to easily move between them.

Автор: Jensen, Grant
Название: Cryo-Em, Part C,483
ISBN: 0123849934 ISBN-13(EAN): 9780123849939
Издательство: Elsevier Science
Рейтинг:
Цена: 24423.00 р.
Наличие на складе: Нет в наличии.

Описание: Describes the instruments, samples, protocols, and analyses that belong to cryo-EM. This title emphasizes the relatedness of the ideas, instrumentation, and methods underlying various cryo-EM approaches which allow practitioners to easily move between them.

Автор: Jeanne Ayache; Luc Beaunier; Jacqueline Boumendil;
Название: Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy
ISBN: 1489998853 ISBN-13(EAN): 9781489998859
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 18284.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: This is the second in a two-volume handbook on sample preparation for the transmission electron microscope. It describes 14 different preparation techniques, including 22 detailed protocols for preparing thin slices for TEM analysis.

Автор: Patrick Echlin
Название: Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
ISBN: 0387857303 ISBN-13(EAN): 9780387857305
Издательство: Springer
Рейтинг:
Цена: 14673.00 р.
Наличие на складе: Есть у поставщика Поставка под заказ.

Описание: The analytical system depends on collecting the x-ray photons that are generated within the sample as a consequence of interaction with the same high energy beam of primary electrons used to produce images.